实验六 触发器及其应用 一.实验目的 1.掌握基本RS、JK、D和T触发器的逻辑功能 2.掌握集成触发器的使用方法和逻辑功能的测试方法 3.熟悉触发器之间的转换方法
二.实验原理 触发器是构成时序逻辑电路的最基本单元，是一个具有记忆功能的二进制存储器件。它具有两个稳定状态（1和0），在外部触发信号作用下，可以丛一个稳态翻转到另一个稳态。 1.基本RS触发器 Q Q 由两个与非门首尾交叉耦合构成。其逻辑功能为： RS=00 —不允许 RS=01 —Q=0 RS=10 —Q=1 RS=11 —状态保持 & & R S
本实验采用74LS112双JK触发器，逻辑符号及引脚排列如图（a）、（b）所示。 Q Q 16 15 14 13 12 11 10 9 VCC 1RD 2RD 2CP 2K 2J 2SD 2Q 74LS112 1CP 1K 1J 1SD 1Q 1Q 2Q GND 1 2 3 4 5 6 7 8 SD J CP K RD （a） （b）
其逻辑功能为： JK触发器的特征方程为： Qn+1=JQn+KQn 直接置1（SD）、置0（RD）优先，即无论CP、J、K如何取值，当：
将JK触发器的J、K端连在一起，引出端子T，则构成T触发器见图示。其特征方程: JK=00 —Qn+1=Qn JK=01 —Qn+1=0 JK=10 —Qn+1=1 JK=11 —Qn+1=Qn 3. T触发器 将JK触发器的J、K端连在一起，引出端子T，则构成T触发器见图示。其特征方程: Qn+1=TQn+TQn 逻辑功能: T=0---Qn+1=Qn T=1---Qn+1=Qn Q Q J K T CP
本实验采用双Ｄ触发器７４ＬＳ７４。逻辑符号及引脚排列如图（ａ）、（ｂ）所示。 ４.Ｄ触发器 本实验采用双Ｄ触发器７４ＬＳ７４。逻辑符号及引脚排列如图（ａ）、（ｂ）所示。 14 Ｑ Ｑ 14 13 12 11 10 9 8 VCC 2RD 2D 2CP 2SD 2Q 2Q 74LS74 1RD 1D 1CP 1SD 1Q 1Q GND SD D CP RD 1 2 3 4 5 6 7 （a） （b）
D触发器的特征方程： Qn+1=D 逻辑功能：SD和RD优先。在CP脉冲上沿作用下 D=0 — Qn+1=0 D=1 — Qn+1=1
三.实验内容 1. 测试基本RS触发器的逻辑功能 将R、S接逻辑开关的输出插口，输出端Q、Q接逻辑电平显示输入插口，按下表要求测试并纪录。 1 1 1 1 1
2. 测试双JK触发器74LS112逻辑功能 （1）测试RD、SD的复位、置位功能。 将RD、SD、J、K、CP接逻辑开关输出插口，Q、Q端接逻辑电平显示输入插口。要求改变RD、SD（J、K、CP处于任意状态），并在RD=0（SD=1）或SD=0（RD=1）作用期间任意改变J、K、CP的状态，观察Q、Q状态，并填写表格。 （2）测试JK触发器的逻辑功能 按照下表的要求改变J、K、CP端的状态，观察Q、Q状态变化，观察触发器状态更新是否发生在CP脉冲的下降沿，并纪录。
在CP端输入1HZ连续脉冲，观察Q端的变化。 在CP端输入1KHZ连续脉冲，用示波器观察CP、Q、Q端波形，注意相位关系，并描绘之。 测试结果 Qn+1 J K CP Qn=0 Qn=1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 （3）测试T触发器的逻辑功能(T=1) 在CP端输入1HZ连续脉冲，观察Q端的变化。 在CP端输入1KHZ连续脉冲，用示波器观察CP、Q、Q端波形，注意相位关系，并描绘之。
（1）测试RD、SD的复位、置位功能，测试方法同前，自拟表格纪录。 4. 测试双D触发器74LS74的逻辑功能 （1）测试RD、SD的复位、置位功能，测试方法同前，自拟表格纪录。 （2）测试D触发器的逻辑功能 按下表要求测试，并观察触发器状态更新是否发生在CP的上升沿，并纪录。 Qn+1 D CP Qn=0 Qn=1 1 1 1 1 1