实验四 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)特性与驱动电路研究

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实验四 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)特性与驱动电路研究 电力电子技术实验 实验四 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)特性与驱动电路研究

一.实验目的 1.熟悉IGBT主要参数与开关特性的测试方法。 2.掌握混合集成驱动电路EXB840的工作原理与调试方法。 二.实验内容 1.IGBT主要参数测试。 2.EXB840性能测试。 3.IGBT开关特性测试。 4.过流保护性能测试。

四.实验线路及原理 线路图见图4-1 绝缘栅极双极型晶体管是双极型电力晶体管和MOSFET的复合。IGBT是Insulated Gate Bipolar Transistor的缩写。电力晶体管饱和压降低,载流密度大,但驱动电流较大。MOSFET驱动功率很小,开关速度快,但导通压降大,载流密度小。IGBT综合了以上两种器件的优点,驱动功率小而饱和压降低。

五.实验方法 1.IGBT主要参数测试 (1)开启阀值电压VGS(th)测试 开启阀值电压简称开启电压,是指器件流过一定量的漏极电流时(通常取漏极电流ID=1mA)的最小栅源电压。 在主回路的“1”端与IGBT的“18”端之间串入毫安表,将主回路的“3”与“4”端分别与IGBT管的“14”与“17”端相连,再在“14”与“17”端间接入电压表,并将主回路电位器RP左旋到底。读取6—7组ID、Vgs,其中ID=1mA必测。

(1)开启阀值电压VGS(th)测试接线图

(2)跨导gFS测试 跨导的定义为漏极电流的小变化与相应的栅源电压小变化量之比,即gFS=△ID/△VGS。 在主回路的“2”端与IGBT的“18”端串入毫安表,将RP左旋到底,其余接线同上。 将RP逐渐向右旋转,读取ID与对应的VGS值,测量5-6组数据。 (3)导通电阻RDS测试 导通电阻定义为RDS=VDS/ID 将电压表接入“18”与“17”两端,其余同上,从小到大改变VGS,读取ID与对应的漏源电压VDS,测量5-6组数据,

(2)跨导gFS测试(3)导通电阻RDS测试接线图

2.EXB840性能测试 (1)输入输出延时时间测试 IGBT部分的“1”与“13”分别与PWM波形发生部分的“1”与“2”相连,再将IGBT部分的“10”与“13”相连、用示波器观察输入“1”与“13”及EXB840输出“12”与“13”之间波形,记录开通与关断延时时间。 ton= ,toff=

(1)输入输出延时时间测试接线图

输入输出延时时间波形

(2)保护输出部分光耦延时时间测试 将IGBT部分“10”与“13”的连线断开,并将“6”与“7”相连。用示波器观察“8”与“13”及“4”与“13” 之间波形,记录延时时间。

(2)保护输出部分光耦延时时间测试接线图

保护输出部分光耦延时波形

(3)过流慢速关断时间测试 接线同上,用示波器观察“1”与“13”及“12”与“13”之间波形,记录慢速关断时间。

(3)过流慢速关断时间测试波形

(4)关断时的负栅压测试 接线同上,用示波器观察“12”与“17”之间波形,记录关断时的负栅压值。

(4)关断时的负栅压测试

3.开关特性测试 (1)电阻负载时开关特性测试 将“1”与“13”分别与波形发生器“1”与“2”相连,“4”与“5”,“6”与“7”,‘2“与”3“,“12”与“14”,“10”与“18”, “17”与“16”相连,主回路的“1”与“4”分别和IGBT部分的“18”与“15”相连。 用示波器分别观察“18”与“15”及“14”与“15”的波形,记录开通延迟时间。

开关特性测试接线图

电阻负载时开关特性测试

电阻,电感负载时开关特性测试

不同栅极电阻时开关特性测试 栅极电阻从R5=3kΩ改为R4=27Ω 电阻负载 电阻,电感负载

4.并联缓冲电路作用测试 (1)电阻负载,有与没有缓冲电路时观察“14”与“17”及“18”与“17”之间波形。 (2)电阻,电感负载,有与没有缓冲电路时,观察波形同上。

并联缓冲电路作用测试(电阻负载 ) 有缓冲 无缓冲

并联缓冲电路作用测试(电阻,电感负载 ) 有缓冲 无缓冲

5.过流保护性能测试,栅计电阻用R4 在上述接线基础上,将“4”与“5”,“6”与“7”相连,观察“14”与“17”之间波形,然后将“10”与“18”之间连线断开,并观察驱动波形是否消失,过流指示灯是否发亮,待故障消除后,揿复位按钮即可继续进行试验。

六.实验报告 1.根据所测数据,绘出IGBT的主要参数的表格与曲线 。 2.绘出输入、输出及对光耦延时以及慢速关断等波形,并标出延时与慢速关断时间。 3.绘出所测的负栅压值与过流阀值电压值。 4.绘出电阻负载,电阻电感负载以及不同栅极电阻时的开关波形,并在图上标出tON 与tOFF。 5.绘出电阻负载与电阻、电感负载有与没有并联缓冲电路时的开关波形,并说明并联缓冲电路的作用。 6.过流保护性能测试结果,并对该过流保护电路作出评价。 7.实验的收获、体会与改进意见。