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逆向工程量測探頭 分類 接觸試探頭的介紹 非接觸式探頭介紹
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分類 探頭分類 接觸式 非接觸式 接觸試量測的優缺點 非接觸量測的優缺點
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分類 接觸式量測的優點 準確性及可靠度高 與工件的反射無關 適合做一般基本形狀量測
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分類 接觸式量測的缺點 為了訂定量測基準點而會使用特殊的夾治具導致較高的量測費用 探頭的球頭易因接觸力造成磨耗,所以需要經常地校正探頭直徑
不當的操作容易損害工件某些重要部位的表面精度以及探頭本身 量測速度慢,因為接觸式觸發探頭是以逐點進出方式量測
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分類 接觸式量測的缺點…(Con.) 一些內部元體,探頭的直徑必定要小於被測件元體的大小 三度空間的曲面尺寸量測,需要做探頭半徑之補正
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分類 接觸式量測的缺點…(Con.) 接觸力將影響量測值的實際讀數 量測系統本身之結構可能有不良的靜態及動態的機械反應
趨近速度會有Dynamic Error的發生,而造成探頭有超越(Overshoot)現象產生 接觸面積與工件表面紋路的幾何形狀有關
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分類 非接觸量測的優點 不必做探頭半徑補正: 雷射光點位置亦即工件表面位置 量測速度非常快速: 不必如接觸觸發探頭般須逐點進出量測
軟工件、薄工件、不可接觸的高精密工件可直接量測
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分類 雜訊訊號之處理 非接觸量測的缺點 量測精度較差,PSD的目前精度約為20μm以上 易受顏色及曲率之限制
一般幾何形狀之量測有困難 使用CCD焦距會影響精度 工件表面的粗糙度會影響量測結果
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接觸式量測探頭 種類 硬式探頭 觸發式探頭 類比式探頭
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接觸式量測探頭 ─ 種類
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接觸式量測探頭 ─ 硬式探頭 以眼睛與感覺做判斷,以腳踏開關觸發將此點座標傳送到處理器
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接觸式量測探頭 ─ 觸發式探頭 此種測頭即利用電子開關結合機構之設計,當探頭碰觸到工件表面,則機構產生開關變化,將電子訊號由on轉成off,即將此時座標鎖住並送到處理器做處理
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接觸式量測探頭 ─ 觸發式探頭 原理
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接觸式量測探頭 ─ 觸發式探頭 機構
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接觸式量測探頭 ─ 觸發式探頭 應用 逐點量測
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接觸式量測探頭 ─ 類比式探頭 原理 類比式量測測頭 (Analog Probe) 其量測方式為探頭接觸工件時,會有側向位置,經由可變線圈感應或光學尺感應,即產生一相對的電壓變化,此種量測方式稱之為類比式量測
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接觸式量測探頭 ─ 類比式探頭 探頭結構
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接觸式量測探頭 ─ 類比式探頭 系統架構
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接觸式量測探頭 ─ 類比式探頭 類比式掃描量測
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接觸式量測探頭 ─ 類比式探頭 掃描圖形結果
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非接觸式量測探頭 種類 (點、線、面) 雷射掃描式 CCD取像式 雷射移位探頭 CCD取像
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非接觸式量測探頭─種類 雷射移位探頭
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非接觸式量測探頭─種類 結構光與CCD取像
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非接觸式量測探頭 ─ 雷射移位探頭 原理 (三角法)
非接觸式量測系統是利用LED或雷射光源,經聚光透鏡直射待測工件物體,反射之光線經由感測器可以偵測得到位置座標值
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非接觸式量測探頭 ─ 雷射移位探頭 影響雷射量測品質的因素 斜率 顏色 塗漆技術
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CCD取像 CCD取像式的方法 原理 數位影像處理 三角量測法定位原理 對映函數法量測原理 結構光法 雙鏡頭立體視覺法 疊紋法
360度輪廓量測理論 CCD感測探頭
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CCD取像 ─ CCD取像式的方法
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CCD取像 ─ 數位影像處理
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CCD取像 ─ 數位影像處理
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CCD取像 ─ 三角量測法定位原理
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CCD取像 ─ 三角量測法定位原理 在XZ平面上 在YZ平面上
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CCD取像 ─ 對映函數法量測原理 所謂對映函數法,就是找出量測平面的空間座標與CCD像平面的影像座標間之關係的方法
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CCD取像 ─ 結構光法
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CCD取像 ─ 結構光法
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CCD取像 ─ 雙鏡頭立體視覺法
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CCD取像 ─ 雙鏡頭立體視覺法
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CCD取像 ─ 疊紋法 疊紋是指當兩組光柵重疊時,會因其間距或指向之不同而產生一組較粗之條紋,即稱為疊紋
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CCD取像 ─ 疊紋法
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CCD取像 ─ 360輪廓量測理論 可將試體置於旋轉盤之中心,當雷射光線投射至物體表面後,便可經由CCD得到光束影像之線資料
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CCD感測探頭 CCD探頭架構 系統解析度設計 探頭參數校準
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CCD感測探頭 ─ CCD探頭架構 半導體雷射 柱狀透鏡 CCD鏡片組 帶通濾光鏡
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CCD感測探頭 ─ CCD探頭架構 半導體雷射
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CCD感測探頭 ─ CCD探頭架構 CCD鏡片組
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CCD感測探頭 ─ CCD探頭架構 CCD鏡頭
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CCD感測探頭 ─ 系統解析度設計
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CCD感測探頭 ─ 探頭參數校準 方法一
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CCD感測探頭 ─ 探頭參數校準 方法二
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