一、数字集成电路封装 中、小规模数字lC中最常用的是TTL电路和CMOS电路。TTL 器件型号以74（或54）作前缀，称为74 / 54系列，如74LS10、74F181、54S86等。中、小规模CMOS 数字集成电路主要是4XXX／45XX ( X代表0—9的数字）系列，高速CMOS电路HC (74HC系列），与TTL兼容的高速CMOS电路HCT.

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1 一、数字集成电路封装 中、小规模数字lC中最常用的是TTL电路和CMOS电路。TTL 器件型号以74（或54）作前缀，称为74 / 54系列，如74LS10、74F181、54S86等。中、小规模CMOS 数字集成电路主要是4XXX／45XX ( X代表0—9的数字）系列，高速CMOS电路HC (74HC系列），与TTL兼容的高速CMOS电路HCT (74HCT系列）。TTL电路与CMOS电路各有优缺点，TTL速度高，CMOS电路功耗小、电源范围大、抗干扰能力强。由于TTL在世界范围内应用极广，在数字电路教学实验中，我们主要使用TTL74系列电路作为实验用器件，采用单一＋5V 作为供电电源。

2 对于74系列和各种74改进系列（如74S系列、74LS系列、74AS系列、74ALS系列等）只要器件型号的后几位编号一样，电路的逻辑功能、供电电压、外形尺寸、引脚排列等就都是一样的。
数字IC器件有多种封装形式。为了教学实验方便，实验中所用的74系列器件封装选用双列直插式。图l是双列直插封装的正面示意图。双列直插封装有以下特点：

3 图2 PLCC封装图 图1 双列直插式封装图

4 1. 从正面（上面）看，器件一端有一个半圆的缺口，这是正方向的标志。缺口左边的引脚号为 l, 引脚号按逆时针方向增加。图1中的数字表示引脚号。双列直插封装 IC 引脚数有 14、16 、20、24、28 等若干种。 2. 双列直插器件有两列引脚。引脚之间的间距是 2.54 毫米。两列引脚之间的距离有宽（15.24 毫米）、窄（7.62 毫米）两种。两列引脚之间的距离能够少做改变，引脚间距不能改变。将器件插入实验台上的插座中去或者从插座中拔出时要小心，不要将器件引脚弄弯或折断。

5 3. 74系列器件一般左下角的最后一个引脚是GND，右上角的引脚是Vcc。例如，14引脚器件引脚7是GND，引脚14是Vcc；20引脚器件引脚10是GND，引脚20是Vcc。但也有一些例外，例如16引脚的双JK触发器74LS76，引脚13（不是引脚 8）是GND，引脚5（不是引脚 16）是Vcc。所以使用集成电路器件时要先看清它的引脚图，找对电源和地，避免因接线错误造成器件损坏。

6 数字电路综合实验中，使用的复杂可编程逻辑器件 MACH4—64/32（或者 ISP1O16）是44引脚的PLCC ( Plastic Leaded chip Carrier）封装，图2是封装正面图。器件上的小圆圈指示引脚1,引脚号按逆时针方向增加，引脚2在引脚1的左边，引脚44在引脚1的右边。MACH 4—64/32电源引脚号、地引脚号与ISP1O16不同，千万不要插错PLCC插座。插PLCC器件时，器件的左上角（缺角）要对准插座的左上角。拔PLCC器件应使用专门的起拔器。

7 若集成芯片引脚上的功能标号为NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。
实验台上的接线采用自锁紧插头、插孔（插座）。使用自锁紧插头、插孔接线时，首先把插头插进插孔中，然后将插头按顺时针方向轻轻一拧则锁紧。拔出插头时，首先按逆时针方向轻轻拧一下插头，使插头和插孔之间松开，然后将插头从插孔中拔出。不要使劲拔插头，以免损坏插头和连线 。

8 必须注意，不能带电插、拔器件。插、拔器件只能在关断＋5V电源的情况下进行。

9 二、TTL集成电路使用规则 1、接插集成块时，要认清定位标记，不得插反。
2、电源电压使用范围为＋4.5V—＋5.5V之间，实验中要求使用Vcc＝＋5V。电源极性绝对不允许接错。

10 3、闲置输入端处理方法 (1) 悬空，相当于正逻辑“1”，对于一般小规模集成电路的数据输入端，实验时允许悬空处理。但易受外界干扰，导致电路的逻辑功能不正常。因此，对于接有长线的输入端，中规模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路，所有控制输入端必须按逻辑要求接入电路，不允许悬空。

11 (2) 直接接电源电压VCC（也可以串入一只1～10KΩ的固定电阻）或接至某一固定电压(＋2. 4≤V≤4
(2) 直接接电源电压VCC（也可以串入一只1～10KΩ的固定电阻）或接至某一固定电压(＋2.4≤V≤4.5V)的电源上， 或与输入端为接地的多余与非门的输出端相接。 (3) 若前级驱动能力允许，可以与使用的输入端并联。

12 4、输入端通过电阻接地，电阻值的大小将直接影响电路所处的状态。当R≤680Ω时，输入端相当于逻辑“0”；当R≥4
4、输入端通过电阻接地，电阻值的大小将直接影响电路所处的状态。当R≤680Ω时，输入端相当于逻辑“0”；当R≥4.7 KΩ时，输入端相当于逻辑“1”。对于不同系列的器件，要求的阻值不同。

13 5、输出端不允许并联使用（集电极开路门(OC)和三态输出门电路(3S)除外）。否则不仅会使电路逻辑功能混乱，并会导致器件损坏。
6、输出端不允许直接接地或直接接＋5V电源，否则将损坏器件，有时为了使后级电路获得较高的输出电平，允许输出端通过电阻R接至Vcc，一般取R＝3—5.1 KΩ。

14 三、数字电路测试及故障查找、排除 设计好一个数字电路后，要对其进行测试，以验证设计是否正确。测试过程中，发现问题要分析原因，找出故障所在，并解决它。数字电路实脸也遵循这些原则。

15 1. 数字电路测试 数字电路测试大体上分为静态测试和动态测试两部分。静态测试指的是，给定数字电路若干组静态输入值，测试数字电路的输出值是否正确。数字电路设计好后，在实验台上连接成一个完整的线路。把线路的输入接电平开关输出，线路的输出接电平指示灯，按功能表或状态表的要求，改变输入状态，观察输入和输出之间的关系是否符合设计要求。静态测试是检查设计是否正确，接线是否无误的重要一步。

16 在静态测试基础上，按设计要求在输入端加动态脉冲信号，观察输出端波形是否符合设计要求，这是动态测试。有些数字电路只需进行静态测试即可，有些数字电路则必须进行动态测试。一般地说，时序电路应进行动态测试。

17 2. 数字电路的故障查找和排除 在数字电路实验中，出现问题是难免的。重要的是分析问题，找出出现问题的原因，从而解决它。一般地说，有四个方面的原因产生问题（故障）：器件故障、接线错误、设计错误和测试方法不正确。在查找故障过程中，首先要熟悉经常发生的典型故障。

18 (1）器件故障 器件故障是器件失效或器件接插问题引起的故障，表现为器件工作不正常。不言而喻，器件失效肯定会引起工作不正常，这需要更换一个好器件。器件接插问题，如管脚折断或者器件的某个（或某些）引脚没插到插座中等，也会使器件工作不正常。对于器件接插错误有时不易发现，需仔细检查。 判断器件失效的方法是用集成电路测试仪测试器件。 需要指出的是，一般的集成电路测试仪只能检测器件的某些静态特性。对负载能力等静态特性和上升沿、下降沿、延迟时间等动态特性，一般的集成电路测试仪不能测试。测试器件的这些参数，须使用专门的集成电路测试仪。

19 （2）接线错误 接线错误是最常见的错误。据有人统计，在教学实验中，大约百分之七十以上的故障是由接线错误引起的。常见的接线错误包括忘记接器件的电源和地；连线与插孔接触不良；连线经多次使用后，有可能外面塑料包皮完好，但内部线断；连线多接、漏接、错接；连线过长、过乱造成干扰。接线错误造成的现象多种多样，例如器件的某个功能块不工作或工作不正常，器件不工作或发热，电路中一部分工作状态不稳定等。

20 解决方法大致包括：熟悉所用器件的功能及其引脚号，知道器件每个引脚的功能；器件的电源和地一定要接对、接好：检查连线和插孔接触是否良好；检查连线有无错接、多接、漏接；检查连线中有无断线。最重要的是接线前要画出接线图，按图接线，不要凭记忆随想随接；接线要规范、整齐，尽量走直线、短线，以免引起干扰。

21 （3）设计错误 设计错误自然会造成与预想的结果不一致。原因是对实验要求没有吃透，或者是对所用器件的原理没有掌握，因此实验前一定要理解实验要求，掌握实验线路原理，精心设计。初始设计完成后一般应对设计进行优化。最后画好逻辑图及接线图。

22 (4) 测试方法不正确 如果不发生前面所述三种错误，实验一般会成功。但有时测试方法不正确也会引起观测错误。例和，一个稳定的波形，如果用示波器观测，而示波器没有同步，则造成波形不稳的假象。因此要学会正确使用所用仪器、仪表。在数字电路实验中，尤其要学会正确使用示波器。

23 在对数字电路测试过程中，由于测试仪器、仪表加到被测电路上后，对被测电路相当于一个负载，因此测试过程中也有可能引起电路本身工作状态的改变，这点应引起足够注意。不过，在数字电路实验中，这种现象很少发生。

24 当实验中发现结果与预期不一致时，千万不要慌乱。应仔细观测现象，冷静思考问题所在。首先检查仪器、仪表的使用是否正确。在正确便用仪器、仪表的前提下，按逻辑图和接线图逐级查找问题出现在何处。通常从发现问题的地方，一级一级向前测试，直到找出故障的初始发生位置。

25 在故障的初始位置处，首先检查连线是否正确。前面已说过，实验故障绝大部分是由接线错误引起的，因此检查一定要认真、仔细。确认接线无误后，检查器件引脚是否全部正确插进插座。有无引脚折断、弯曲、错插问题。确认无上述问题后，取下器件侧试，以检查器件好坏，或者直接换一个好器件。如果器件和接线都正确，则需考虑设计问题。