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μ子寿命测量 王纬臻 合作者 吴泽文 指导老师：乐永康
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μ子来源
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μ子寿命 衰变速率 一定 积分 “寿命” 衰变概率
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μ子寿命 单个μ子在dt内衰变概率为 设第i个μ子的产生时刻为 ，则在t时刻衰变概率为 第i个μ子到达时刻为 ，则 内衰变概率
若实验共测量到M个μ子衰变事件，则在 内，衰变的总μ子数为
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μ子探测
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实验装置
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实验结果 采集时间513032s 事件总数 衰变事件2193 道宽500ns、1000ns、2000ns 道宽20ns
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实验结果 本底计算 实验结果拟合 理论计算
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实验结果 道宽500ns 拟合本底 理论本底
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实验结果 道宽1μs 拟合本底 理论本底
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实验结果 道宽2μs 拟合本底 理论本底
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实验结果 采集半年数据
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实验结论 μ子衰变数随时间服从指数规律，使用闪烁体和可编程逻辑器件探测自然界中的μ子，可以测量其寿命，以及正反两种μ子的数量之比。
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参考文献 [1] T.E. Coan, J. Ye. Muon Physics.
[2] 孙腊珍，吴雨生，李澄. μ子寿命测量实验. 物理实验，2010年2月，第30卷第2期第1页 [3] 吴雨生，吕治严，李数，李澄，孙腊珍. 一种简便的μ子寿命测量实验设计. 中国科学技术大学学报，2010年6月，第40卷第6期第608页 [4]
![参考文献 [1] T.E. Coan, J. Ye. Muon Physics.](http://slidesplayer.com/slide/15406697/93/images/15/%E5%8F%82%E8%80%83%E6%96%87%E7%8C%AE+%5B1%5D+T.E.+Coan%2C+J.+Ye.+Muon+Physics..jpg "[2] 孙腊珍，吴雨生，李澄. μ子寿命测量实验. 物理实验，2010年2月，第30卷第2期第1页. [3] 吴雨生，吕治严，李数，李澄，孙腊珍. 一种简便的μ子寿命测量实验设计. 中国科学技术大学学报，2010年6月，第40卷第6期第608页. [4]")
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