KE期末報告— 依公司別為基的專利地圖分析

Presentation on theme: "KE期末報告— 依公司別為基的專利地圖分析"— Presentation transcript:

1 KE期末報告— 依公司別為基的專利地圖分析
趙敏樺

2 研究流程

3 研究方法 ORC Manufacturing Co. Ltd. Adtec USPTO專利分析(共59筆) TIPO專利分析(共80筆)
JPO專利分析(共29筆) Adtec USPTO專利分析(共32筆) TIPO專利分析(共30筆) JPO專利分析(共191筆)

4 整體趨勢分析圖 ORC Manufacturing in USPTO

5 整體趨勢分析圖(JPO) ORC Manufacturing in JPO

6 整體趨勢分析圖 ORC Manufacturing

7 整體趨勢分析圖 Adtec in USPTO

8 所屬地區與國別專利數量分析圖 VG IL HK US JP

9 公司專利數量分析圖 ORC MANUFACTURING

10 IPC分析圖(USPTO)

11 IPC內容說明(USPTO) G03F PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, 圖紋面之照相製版工藝，如印刷工藝、半導體裝置之加工工藝；其所用材料；其所用原版；其所專用設備 G03B APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR 攝影、放映或觀看用的裝置或設備；利用光波以外其他波之類似技術之裝置或設備；及有關的附件 H05K PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS 印刷電路；電氣設備之外殼或結構零部件；電氣元件組件之製造 H01J ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS 電子管或放電燈 G01B MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS 長度、厚度或類似線性尺寸之計量；角度之計量；面積之計量；不規則之表面或輪廓之計量

12 公司專利IPC技術分析統計(USPTO)
ORC Adtec G03F 29 10 G03B 22 H05K 20 11 H01J 8 H05B 4 G01B E05B G01R 1

13 THANK YOU