Download presentation
Presentation is loading. Please wait.
Published bySeverin Bø Modified 5年之前
1
胡承維 指導教授: 廖洺漢 台大機械系 mhliaoa@ntu.edu.tw 0918-936-625
E-gun 機台介紹 胡承維 指導教授: 廖洺漢 台大機械系
2
Outline (E-gun) 1. 機台種類與原理 2. 機台架構 3. 製程特性 4. 製程操作流程 5. 機台維修表
6. E-gun與Sputter 比較
3
Outline (E-gun) 1. 機台種類與原理 2. 機台架構 3. 製程特性 4. 製程操作流程 5. 機台維修表
6. E-gun與Sputter 比較
4
在真空的容器中,將欲蒸鍍的材料加熱直至汽化 昇華並使此氣體附著於放置在附近的基板表面上 而形成一層薄膜。
E-gun 機台原理與種類 在真空的容器中,將欲蒸鍍的材料加熱直至汽化 昇華並使此氣體附著於放置在附近的基板表面上 而形成一層薄膜。
5
E-gun 機台原理與種類 電子束蒸鍍系統 阻抗式加熱溫度系統
6
電子束蒸鍍法是利用高能電子束的動能轉換為熔 化靶材的熱能,並利用靶材在接近熔點時的飽和 蒸汽壓進行鍍膜。
電子束蒸鍍系統 電子束蒸鍍法是利用高能電子束的動能轉換為熔 化靶材的熱能,並利用靶材在接近熔點時的飽和 蒸汽壓進行鍍膜。 資料來源:
7
電子束蒸鍍系統 優: 1.電子束直接加熱在被蒸鍍材料上且一般裝被蒸 鍍材料坩堝之鎗座都有水冷卻,因此比起熱電阻 加熱法污染較少,膜品質較高。
2.電子束可加速到很高能量(3000~6000℃),一些 膜性質良好的氧化層在熱電阻加熱法中不能蒸鍍 的,都可以用此法蒸鍍。 3.以數個坩堝裝放不同被蒸鍍的材料並排成一圈, 欲鍍時就轉到電子束打擊位置,因此鍍多層膜相 當方便。
8
電子束蒸鍍系統 缺: 1. 若電子束及電子流控制不當會引起材料分解或 游離,前者會造成吸收,後者會造成基板累積電 荷而造成膜面放電損傷。
2. 對不同材料所需之電子束的大小及掃瞄方式不 同,因此若鍍膜過程中使用不 同鍍膜材料時必須 不時調換製程參數與條件。
9
阻抗式加熱蒸鍍是用絲狀或片狀的高熔點金屬做 成適當形狀的蒸發源,將膜料放在其中,接通電 源,電阻加熱膜料而使其蒸發。
阻抗式加熱溫度系統 阻抗式加熱蒸鍍是用絲狀或片狀的高熔點金屬做 成適當形狀的蒸發源,將膜料放在其中,接通電 源,電阻加熱膜料而使其蒸發。 資料來源:
10
優: 1.製程簡單。 2.蒸發源形狀容易配合需要做成各種形式。
阻抗加熱蒸鍍系統 優: 1.製程簡單。 2.蒸發源形狀容易配合需要做成各種形式。
11
阻抗加熱蒸鍍系統 缺: 1. 需先加熱電阻片再傳熱給薄膜材料,因此電阻 片多少會與材料起作用,或引生雜質。
2. 電片能加熱之溫度有限,對於高熔點之氧化物 則大部分無法熔融蒸鍍。 3. 膜質不硬,密度不高。
12
阻抗式加熱 versus 電子束加熱 阻抗式 電子束 低 鍍膜品質 高 少 可鍍金屬種類 多 熱汙染 較複雜 操作流程 較簡易 鍍多層膜
較長 操作時間 較短
13
Outline (E-gun) 1. 機台種類與原理 2. 機台架構 3. 製程特性 4. 製程操作流程 5. 機台維修表
6. E-gun與Sputter 比較
14
機台架構 真空腔體 氮氣瓶 膜厚控制器系統 水冷卻機 電子束 排氣系統
15
排氣系統內部有兩 個幫浦,主要功能 為將腔體抽真空。
16
排氣系統圖 Chamber ROUGH 氮氣 VENT.V CLOSE Three-way Main value value
FORE ROUGH CLOSE Automatic Leake Value Chamber VENT.V Main value Three-way value BACK.P MAIN.P LN cold trap (option) 排氣系統圖 氮氣
17
氮氣瓶 氮氣瓶功用為提供氮氣進行破真空。
18
水冷卻機 水冷卻機主要功用為冷卻坩堝、石英震盪器、幫浦之溫度。
19
腔體 載盤 遮擋板 載船 坩堝 石英鍍膜器
20
石英鍍膜器、載盤 石英蒸鍍器和欲鍍膜基板一同被鍍上薄表面膜,此時石英振盪因為厚度改變,振盪頻率就改變了,將頻率漂移量轉換成膜厚變化量,因此可以監控鍍膜厚度。 載盤為晶片放置之位置。
21
遮擋板主要的目的是遮住載 盤,防止一開始加熱之蒸鍍 源比較不純的物質沉積在晶 片上。
遮擋版 遮擋板主要的目的是遮住載 盤,防止一開始加熱之蒸鍍 源比較不純的物質沉積在晶 片上。
22
載船為電阻所在處, 通電後加熱以汽化蒸 鍍源 (阻抗式加熱的 SOURCE) 坩堝為放置欲蒸鍍之 金屬的容器(電子束加 熱的SOURCE)
載船、坩堝 載船為電阻所在處, 通電後加熱以汽化蒸 鍍源 (阻抗式加熱的 SOURCE) 坩堝為放置欲蒸鍍之 金屬的容器(電子束加 熱的SOURCE)
23
膜厚控制器 可觀察鍍膜時之鍍率、膜厚。 鍍率 膜厚
24
Outline (E-gun) 1. 機台種類與原理 2. 機台架構 3. 製程特性 4. 製程操作流程 5. 機台維修表
6. E-gun與Sputter 比較
25
E-gun 可鍍材料表 (金屬) 適合度 金屬 最適 良好 普通 不適
Be、B、Al、Si、Ti、V、Fe、Co、Ni、Zn、Ge、Zr、Nb、Mo、Ag、In、Sn、Ta、Pt、Au、Pb。 Mg、Cr、Mn、Ga、Se、Y、Rh、Pd、Hf、W、Bi。 C、Re、Ir。 Sb、Ce、Te。 最適 良好 普通 不適
26
E-gun 可鍍材料表 (合金) 適合度 合金/金屬 優 適 良 可
Al-Cu、Al-Si、Co-Cr、Co-Ni、Fe-Co、In-Sn、Ni-Cr、Ag、In、Sn、Ta、Pt、Au、Pb。 Mg、Cr、Mn、Ga、Se、Y、Rh、Pd、Hf、W、Bi。 C、Re、Ir。 Sb、Ce、Te。 優 適 良 可
27
坩堝材質選擇表
28
Outline (E-gun) 1. 機台種類與原理 2. 機台架構 3. 製程特性 4. 製程操作流程 5. 機台維修表
6. E-gun與Sputter 比較
29
晶片蒸鍍前置作業 實驗製作過程: 破片→震洗:丙酮(ACE)>甲醇(LP)> 異丙醇(IPA)>去離子水(DIWater) →烤板(七分鐘) → 上光阻(ZA5214)→曝光→顯影→放入機台鍍金屬
30
電子束蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開E-Beam →調整EB與鍍材資料→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機
31
電子束蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開E-Beam →調整EB與鍍材資料→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機
1.確認電離真空計:「OFF」。 2.MAIN. V:「CLOSE」、三向閥: 「FORE」。 3.將VENT. V轉開:「ON」。(慢慢轉開) 確認氮氣瓶的指針降下時,代表開始有氣 體進去。等到腔體把手可以拉開時,即可 開門。(將氮氣灌入腔體破真空。) 4.開門後,將VENT. V關上:「OFF」。 (避免一直排放氮氣) Chamber 氮氣 off F OR E B.P M.P
32
1.打開腔體 2.將坩堝放入鍍材, 載盤裝上試片 3.過程中應雙手戴上 手套與配戴口罩(避 免雜質流入腔體)
電子束蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開E-Beam →調整EB與鍍材資料→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機 載盤 1.打開腔體 2.將坩堝放入鍍材, 載盤裝上試片 3.過程中應雙手戴上 手套與配戴口罩(避 免雜質流入腔體) 坩堝
33
1.確認VENT.V關上:「OFF」 2.將三向閥轉至:「ROUGH」。 先由BACK PUMP粗抽至10Pa以下。 (大約5-10分鐘)
電子束蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開E-Beam →調整EB與鍍材資料→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機 off 1 ROUGH 2 B.P M.P Chamber 1.確認VENT.V關上:「OFF」 2.將三向閥轉至:「ROUGH」。 先由BACK PUMP粗抽至10Pa以下。 (大約5-10分鐘)
34
電子束蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開E-Beam →調整EB與鍍材資料→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機
F OR E 3 open 4 B.P M.P Chamber 3.將三向閥轉至:「FORE」。 4.將MAIN. V:「OPEN」,並開到底。 5.再將「電離真空計」及FIL開啟。 6.抽真空置所需真空度後,按下FIL暫 停或關掉皆可,以維持其真空度。 再由MAIN PUMP細抽至10^-3。 (約40-50分鐘)
35
電子束蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開E-Beam →調整EB與鍍材資料→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機
1.確認「電離真空計」已關閉。(以防蒸鍍時傷到真空計) 2.打開主電源。確認右側整排綠燈皆亮起,代表無異常 3.將KEY轉至:「LOCAL」。 (LOCAL代表為由當前操控者操作) 4.HIGH VOLTAGE OFF 綠燈亮起,按下 HIGH VOLTAGE:「ON」(紅燈)。(啟動EBEAM能量機) 5.調整載盤轉速,並開啟旋轉載盤。
36
電子束蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開E-Beam →調整EB與鍍材資料→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機
1. 至膜厚控制器操作面板調整數據。 (依照實驗室的材料資 料本調整DENSITY和Z- RATIO參數) 2.LOCAL CONTROL BOX(EB輸出控制器): EMISSION:依材料融化情況做調整。(調整電流輸出的強弱) 觀察鍍率上升時,代表可開始蒸鍍。
37
電子束蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開E-Beam →調整EB與鍍材資料→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機
1.X-AXIS POSITION:調整亮點至正中央的位置 (往正方向調整:電子束往後移;往負方向調整:電子束往前 移) 2.X-AXIS SWEEP:需材料有昇華反應時,才需調整。(毋須 調整) 3.Y-AXIS POSITION:(毋須調整) 4.Y-AXIS SWEEP:(毋須調整)
38
1.預開始鍍膜時,須轉開遮擋板並同時按下膜厚控制面板的 「②」(將偵測厚度歸0)。 2.完成後,關上遮擋板。
電子束蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開E-Beam →調整EB與鍍材資料→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機 1.預開始鍍膜時,須轉開遮擋板並同時按下膜厚控制面板的 「②」(將偵測厚度歸0)。 2.完成後,關上遮擋板。
39
電子束蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開E-Beam →調整EB與鍍材資料→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機
1.EMISSION歸0。 2.HIGH VOLTAGE:「OFF」。 3.KEY轉至:「LOCK」。 4.關閉主電源。 5.等5~10分鐘讓腔體冷卻。 6.破真空,取出樣品。
40
阻抗式蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開蒸發機 →調整鍍材資料與電流→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機
41
阻抗式蒸鍍流程 1 2 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開蒸發機 →調整鍍材資料與電流→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機
1.確認「電離真空計」已關閉。 2.開啟主蒸發電源(MAIN):「ON」。 3.按「SELECT」選擇鍍膜源。 (1為左、2為右) 4.打開蒸發電源(POWER):「ON」。 1 2
42
阻抗式蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開蒸發機 →調整鍍材資料與電流→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機
1.至膜厚控制器操作面板調整數據。(由實驗室材料資料本調 整DENSITY和Z-RATIO參數) 2.按「▲UP」,慢慢提升蒸發源電流。(每次提升電流5A並觀 察加熱情形。) 3.加熱到載船變紅、材料開始融化時,再提升電流5~10A,觀 察鍍率上升時,代表可開始蒸鍍。 4.調整載盤轉速,並開啟旋轉載盤。
43
1.預開始鍍膜時,須轉開遮擋板並同時按下膜厚控制 面板的「②」(將偵測厚度歸0)。 2.蒸鍍完後,關閉遮擋板。
阻抗式蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開蒸發機 →調整鍍材資料與電流→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機 1.預開始鍍膜時,須轉開遮擋板並同時按下膜厚控制 面板的「②」(將偵測厚度歸0)。 2.蒸鍍完後,關閉遮擋板。
44
阻抗式蒸鍍流程 破真空→放入鍍材與試片→ 抽真空→打開蒸發機 →調整鍍材資料與電流→蒸鍍→破真空→取出樣品→抽真空→關機
1.將電流慢慢降至0。(每降5A,須等實際電流也下降穩定後再 繼續下降。) 2.完成後,須等5 ~ 10分,等待腔體內冷卻。 3.關閉主蒸發電源(MAIN):「OFF」。
45
Outline (E-gun) 1. 機台種類與原理 2. 機台架構 3. 製程特性 4. 製程操作流程 5. 機台維修表
6. E-gun與Sputter 比較
46
機台維修表 品名 保養價格 保養週期 最後保養時間 下次保養時間 離子真空計感測子 21000/個 1年檢查誤差 - 派藍尼真空計感測子
3200/個 石英振盪片 5000/5片 防著版(清潔) 8000/片 1年檢查版面 鎢坩堝 12000/10個 壞了換 鎢舟(載船) 6000/100個 MAIN PUMP 8000小時 BACK PUMP
47
Outline (E-gun) 1. 機台種類與原理 2. 機台架構 3. 製程特性 4. 製程操作流程 5. 機台維修表
6. E-gun與Sputter 比較
48
E gun 與 Sputter 特性比較 溫度 鍍膜 速率 鍍材 種類 成本 (靶材) 操作 難度 膜緊 密度 階梯覆蓋率 E-gun 高
快 少 低 易 佳 Sputter 慢 多 難 差 原因 由於E-gun是將鍍材加熱到熔點故溫度高 E-gun為表面熱蒸發,原子數目比Sputter撞擊離開的多 Sputter能提供較高的能量,所以可以打出較多種材料原子 - Sputter成膜粒子擁有較大能量(10eV) E-gun較小(0.2eV) E-gun的氣態金屬會在樣品的每個接觸面凝結
Similar presentations