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製造程序 Manufacturing Processes and Systems 9E 第19章 電子製造
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目錄 19.1 元件和定義 19.2 從元件到產品 19.3 焊接系統 19.4 焊接點的設計 19.5 熱力學特質 19.6 電磁交互作用和去除靜電荷 19.7 清潔過程 19.8 封裝技術的出現
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概論 電子產品愈來愈輕、愈小、速度愈來愈快, 功能愈來愈多,對於能源的須求亦愈來愈少
電子封裝技術從原本不連續的積體電路、雙 列封裝積體電路至表面安裝積體電路 電子製造不僅包括電子封裝。軟焊材料和軟 焊過程、助焊劑、膠帶、熱量管理、電磁遮 蔽、去除靜電保護和清潔替代品都是一些激 烈競爭的產品 499
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19.1 元件和定義 每件工業製造產品包含: 一、電子零件 二、用電子裝置來設計及製造
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19.1 元件和定義 電子產品實例 一、 文字處理機:用來寫句子 含蓋的製造 ▪半導體基本科技 ▪電子控制模塑法製造塑膠鍵盤
19.1 元件和定義 電子產品實例 一、 文字處理機:用來寫句子 含蓋的製造 ▪半導體基本科技 ▪電子控制模塑法製造塑膠鍵盤 ▪用微處理機控制機器製造個別零件的 裝配
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19.1 元件和定義 電子產品實例 二、 汽車: ▪汽車用電腦設計 ▪用微處理機控制機器人來裝配 含蓋的製造項目: 。電子點火 。 儀表
19.1 元件和定義 電子產品實例 二、 汽車: ▪汽車用電腦設計 ▪用微處理機控制機器人來裝配 含蓋的製造項目: 。電子點火 。 儀表 。燃燒控制系統
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19.1 元件和定義 電子產品實例 三、電信系統 含蓋的製造項目: 。地面通訊設備 。微波 。人造衛星 以上的產品,沒有電子就無法操作
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19.1 元件和定義 20世紀初沒有電子工業,1947發明電晶 體
19.1 元件和定義 20世紀初沒有電子工業,1947發明電晶 體 ▪半導體快速發展,1960年代,只靠一 片矽材料“晶片”即可生產下列產品: 。電晶體 。二極體 。電阻器 。電容器 這些稱為“積體電路”
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19.1 元件和定義 1970年,積體電路和計算功能連結生產 ,就是“微處理機”
19.1 元件和定義 1970年,積體電路和計算功能連結生產 ,就是“微處理機” ▪ 1980年中期,只在單一晶片上就可 生產一百萬個元件,也就是非常大的積 體電路 ▪緊接著的發展將涉及到在一晶片上就 有上千上百萬的元件,稱為十億積體電 路 ▪電路線寬要低於1μm,製造很困難
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19.1 元件和定義 積體電路 (integrated circuit, IC) 的定義為一群 在基材中製造,彼此連結而無法分開的電路 它包含許多獨立元件﹙電晶體、 電阻器、 電容器等﹚的單功能塊,一般稱為晶片。大 多數的晶片,其基材是用矽製成 基材 (substrate) 是一餅片狀的絕緣材料,是 印刷線路樣模的實體支撐或基層,為熱能吸 收物。 499
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19.1 元件和定義 500
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19.1 元件和定義 半導體概念: 。半導體材料是因其電子性質是位於導 電體與絕緣體間
19.1 元件和定義 半導體概念: 。半導體材料是因其電子性質是位於導 電體與絕緣體間 。使其有用是本身具有的電子性質,藉 著謹慎增加晶體結構摻雜劑的數量而有 所改變
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19.1 元件和定義 晶圓的製造 晶圓的製程中,首先從矽氧化物中還原出矽。 矽中需加入dopants﹙滲雜物﹚的不純物,以製造特 定類型的導電體 導電體有兩種 正 ( P 型 ) 載子 (carriers) 負 ( n 型 ) 載子 晶圓成長 (wafer shaping) 的過程,乃係先在熔融液 中插入一根完美的單晶“ 種子 ”,然後慢慢將它 抽出,一個大的單一晶體便在熔融液中成長 500
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19.1 元件和定義 。摻雜劑的型態 1. “n”型:使材料電子豐富 2. “p”型:使材料電子不足
19.1 元件和定義 。摻雜劑的型態 1. “n”型:使材料電子豐富 2. “p”型:使材料電子不足 。零件在半導體材料的晶體結構決定 於選擇摻雜物 例如:將“n”型元素與“p”型元素接觸 ,就產生p-n結合,即產生二極接合,此結構 將引導電流只有一個方向
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19.1 元件和定義 晶圓(Wafer)的生產由砂即(二氧化矽)開 始,經由電弧爐的提煉還原成 冶煉級的矽, 再經由鹽酸氯化,產生三氯化矽,經蒸餾純 化後,透過慢速分 解過程,製成棒狀或粒狀 的「多晶矽」。一般晶圓製造廠,將多晶矽 融解 後,再利用矽晶種慢慢拉出單晶矽晶棒 。一支85公分長,重76.6公斤的8吋 矽晶棒 ,約需2天半時間長成。經研磨、拋光、切片 後,即成半導體之原料 晶圓片。晶圓( Wafer)是由二氧化矽提煉製成,是用在資訊 產品、資訊家電等日常用品中,各種半導體 產品的材料。
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19.1 元件和定義 半導體概念 。半導體零件如電晶體和二極體以離散元件生 產,適用在很多的產品,像電視機和收音機
19.1 元件和定義 半導體概念 。半導體零件如電晶體和二極體以離散元件生 產,適用在很多的產品,像電視機和收音機 。離散元件應用在動力傳送,處理大量電流。 研究機構iSuppli新出版的報告指出,電子離 散元件包括雙極功率電晶體(bipolar power) 、功率MOSFET 、小型訊號電晶體、整流器等 。 。技術上最複雜的是大量半導體集中在一片, 即所稱的積體電路﹙IC﹚
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚ 晶片的製造步驟:
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚ 晶片的製造步驟: 1.結晶長成﹙Crystal growing﹚ 2.積體電路生產﹙ Integrated circuit production﹚ 3.積體電路的包裝﹙Packaging of Integrated circuits ﹚
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片的製造 步驟:
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片的製造 步驟: 1.結晶長成﹙Crystal growing﹚ 。半導體元件製造最常用的材料是“矽 ” 。矽氧化後﹙二氧化矽﹚是最好的絕緣 體,可用來隔離晶片上的零件及元件 。因為“矽”產量極為豐富,比稼砷化 物便宜,至今仍是最受歡迎的襯底材料
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟 1.結晶長成﹙Crystal growing﹚ 。矽存在碤砂裡,即二氧化矽,製 造前要先淨化,使其變成無瑕疵晶體供 晶片製造。
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚ 晶片的製造步驟
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚ 晶片的製造步驟 1.結晶長成﹙Crystal growing﹚ 矽的淨化程序: a.用碳亦即煤或焦煤在電弧爐加熱, 以生產出含97%純度的多晶矽 b.再次加熱,以氯化物分餾及蒸汽堆 積,產生100%純度的多晶矽 c. 將100%純度的多晶矽在石英坩堝 裡熔化
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19.1 元件和定義 ▪積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片的製造 步驟
19.1 元件和定義 ▪積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片的製造 步驟 1.結晶長成﹙Crystal growing﹚ 矽的淨化程序: d.在石英坩堝裡熔化的多晶矽,也可加入摻 雜劑 e.可將矽的品種滴入溶液,在旋轉時慢慢移 開,晶種外層的溶化材料凝固形成更大的晶體,稱 為“布雷” f.布雷直徑約0.15公尺,長約1公尺其結晶長 成的方法稱為“克羅克拉爾斯基﹙Czochralski﹚法
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟 1.結晶長成﹙Crystal growing﹚ 矽的淨化程序: g.要檢查布雷有無瑕疵,測試電子特 性,去除不良部分 h.晶體長成法並沒有控制直徑規格, 此時轉動並研磨布雷,產生精確的圓柱體, 直徑在50-150mm,長1公尺
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚ 晶片的製造步驟
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚ 晶片的製造步驟 1.結晶長成﹙Crystal growing﹚ 矽的淨化程序: i.續用鑽石鋸切成約0.5mm厚的晶片, 這些晶片要磨光並檢查在鋸的時後是否造成 傷害,有就要棄除 j.晶體長成和晶片生產都是由專門公 司製造,因此最後的步驟是包裝晶片,並分 送到零件製造工廠。
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟:
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟: 2.積體電路生產﹙ Integrated circuit production﹚ 積體電路生產上有許多基本步驟,實 際的生產過程,這些步驟會重複,在一晶片 上生產數個不同電路層、摻雜區、以及電子 間之相互連接。其生產步驟如下:
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟:
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟: 2.積體電路生產﹙ Integrated circuit production﹚步驟 a.光平版印刷術(photolithography) 1. 傳統機製法無法在一公分平方的矽片上生產 一百萬個元件,要求助感光技術,即使在此,一般 光線也無法使用,因其波長大約是從0.4μm到低於 0.8μm,對這些電路來說,又太過粗略 2.最佳解決之道乃使用約0.1μm的紫外線或約 μm的電子束
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19.1 元件和定義 ▪積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟:
19.1 元件和定義 ▪積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟: 2.積體電路生產﹙ Integrated circuit production﹚步驟 a.光平版印刷術(photolithography) 3.光平版印刷術涉及電路的印刷模型及光罩元 件。因為每片矽晶片可生產大量的積體電路,模型 在一個光罩上又可重複使用 4.光罩是靠電腦輔助設計﹙CAD﹚系統所產生 的資訊在玻璃上感光製成
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19.1 元件和定義 ▪積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟:
19.1 元件和定義 ▪積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟: 2.積體電路生產﹙ Integrated circuit production﹚步驟 a.光平版印刷術(photolithography) 5.模型的影像從光罩投影到先前塗上光感膜的矽晶片上。此 膜稱為光阻劑﹙photoresist﹚,一旦碰到紫外線或電子束,在 蝕刻溶液裡就會產生較多“正光阻劑”或少“負光阻劑” 6.經過紫外線或電子束的曝光後,經由蝕刻處裡的晶片, 會留下曝光表面的適當部分 7.應用層級製造,曝光表面就容易用氧化、摻雜物擴散、 蒸汽堆積或進一步蝕刻處理 8.IC的設計會決定這些製程的進行,在每個步驟間,光平 版印刷法是用來生產新的模型
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶 片的製造步驟:
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶 片的製造步驟: 2.積體電路生產﹙ Integrated circuit production﹚步驟 b.氧化﹙oxidation﹚ 1.二氧化矽是最佳絕緣體,可有效 阻斷摻雜劑擴散,強力附著在矽襯底
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片的製造 步驟:
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片的製造 步驟: 2.積體電路生產﹙ Integrated circuit production﹚步驟 b.氧化﹙oxidation﹚ 2.建立矽襯底的氧化模型。程序如下: 。乾氧化:矽襯底暴露在多氧氣氛的爐子內,溫度 大約是攝氏900度到1200度,此法造成矽表面氧化 。溼氧化:在含蒸汽的大氣中進行,會高速氧化但 密度很低 。乾濕過程併用:將矽清洗後,氧化表面塗上已在 約攝氏100度的爐子預烘過的光阻材料,即可進行先前提過的 光平版印刷術
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟:
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟: 2.積體電路生產﹙ Integrated circuit production﹚步驟 c.化學蒸汽堆積與摻雜劑擴散﹙Chemical vapour deposition and dopant diffusion﹚ 此法是用來生產在襯底的P型及N型半導體 區域,將襯底置於堆積摻雜劑的化學蒸汽中,爐內 溫度是攝氏800度到1200度,在爐內,原子從摻雜劑 材料擴散到矽襯底,造成矽原子移位
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟:
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟: 2.積體電路生產﹙ Integrated circuit production﹚步驟 d. 金屬蒸汽堆積﹙Metal vapour deposition﹚ 此法是用來生產導體,一般是用鋁和鋁合金,但用在 高密度就需要鎢,再次使用光平版印刷術和蝕刻產生接合通道 ,因為金屬導體必須互通才能使積體電路運作 真空堆積方面是晶片置於熔化堆積材料的真空狀態, 在真空狀態下,金屬在鄰近表面沸騰、堆積。此步驟很有組織 ,金屬蒸汽從溶液直線擴散,塗在表面上
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶 片的製造步驟:
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶 片的製造步驟: 2.積體電路生產﹙ Integrated circuit production﹚步驟 經由以上a-d的製程在晶片上進行無數 次後,就產生積體電路,但要自動化測 試,透過電腦程式掃瞄,將有瑕疵的積 體電路用鑽石鋸片分開或在積體電路間 劃線,並將其折斷如瓦片切割。在製程 中此步驟稱IC為鑴模﹙dies﹚
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟:
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶片 的製造步驟: 3.積體電路的包裝﹙Packaging of integrated circuits﹚ ▪個別鑴模很脆弱又容易折損,所以要有保護套 ▪保護套需要提供實際規格連接,使鑴模和電路在印刷電路 板上接合 ▪藉著鑴模背面金屬化,使鑴模可附上保護套或包裝,再用 軟焊將鑴模焊接到包裝的金屬板上,或是用環氧樹脂黏合 ▪鑴模的金屬化接觸襯墊是前述的蒸汽堆積法所產生,用壓 力或超音波結合技巧,使接觸襯墊和包裝導線接合,然後封閉 包裝,但必須確定沒有溼氣或污染
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19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶 片的製造步驟:
19.1 元件和定義 積體電路﹙Integrated circuit, IC﹚晶 片的製造步驟: 3.積體電路的包裝﹙Packaging of integrated circuits﹚ 包裝完作最後測試,測試必須有高可 信賴度,例如航空和軍事用途,包裝要測試 高溫、溫度週期、震動等,以確保電路不會 提早結束耐用年數
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19.1 元件和定義 潔淨室概念 ▪積體電路規格是1μm以內,所以 製造時雜質粒子的污染是很嚴重的問題 。例如,人的頭髮直徑是30-100μm , 細菌是 μm ,為了防止雜質粒子 的污染,半導體製造室及其他精細裝配 作業必須建立“潔淨室”,確保環境 清潔
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19.1 元件和定義 潔淨室概念 ▪污染的防止 1.空氣進入潔淨室,必須經過高效率過濾器,過濾 器去除規格超過0.3μm的粒子,必須達99.97%的效 率,木炭過濾器也可用來去除空氣中的化學污染 2.為了確定只有乾淨空氣存在,所以在潔淨室和工 廠外面間必須確定有正氣壓差。此壓力差可確定空 氣只從潔淨室逃出,而外面空氣必須經過過濾系統 才能進入 3.空氣進入潔淨室可以過濾,但人在潔淨室裡也是 污染的主要來源。為了杜絕污染,操作員要穿戴外 科面罩、手套、頭罩以及長袍
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19.1 元件和定義 元件種類 主動元件 被動元件 傳導元件 放大、開關或整流電信訊號的半導體裝置,如電晶體、二極體和積體電路
19.1 元件和定義 元件種類 主動元件 放大、開關或整流電信訊號的半導體裝置,如電晶體、二極體和積體電路 被動元件 不用放大、開關或整流就能改變訊號的傳導裝置,包括電阻器、電容器和感應器 傳導元件 僅是一訊號通過的傳導裝置,本身不會改變,遵循既定的路徑從一個功能的電路至另一個 501
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19.1 元件和定義 印刷電路板 大部分的電路設計工作,都藉助電腦來完 成,在電腦上,只要打入適當的指令或使 用光筆,就可以改變電路的設計
19.1 元件和定義 印刷電路板 大部分的電路設計工作,都藉助電腦來完 成,在電腦上,只要打入適當的指令或使 用光筆,就可以改變電路的設計 感光罩幕是一組主宰製造成品的照相縮版 ,通常比實際電路的尺寸大250至500倍 照相術 (photography) 501
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19.1 元件和定義 電子製造中的照相平版印刷 照相平板印刷是一種將微小圖案從感光罩 幕轉移到晶圓上實際電路中的材料層的過 桯
19.1 元件和定義 電子製造中的照相平版印刷 照相平板印刷是一種將微小圖案從感光罩 幕轉移到晶圓上實際電路中的材料層的過 桯 光阻劑有二兩種: 負抗感光劑,它會由於暴露在紫外光下,而聚合在一起 正抗感光劑,其聚合作用會因暴露於光源下而減退 502
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19.1 元件和定義 502
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19.2 從元件到產品 嵌合技術 插件嵌合接腳技術,就是一般的穿口插件 (THI),需要準備接腳,插入元件,修剪多 餘的接腳和靠著印刷電路板的底面將接腳 摺疊,夾持住晶片或電子構件 表面嵌合技術 每一個都是藉著它們多重導線焊接,以機 械力使得它們和電路板導通,單面的接黏 使得元件縮小化和SMT製造變得可能且便 利 504
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19.2 從元件到產品 504
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19.3 焊接系統 連接作用的可靠度是視焊接接合處的堅 固與否而定的 基本活化焊料的熱傳導方法能藉著熱傳 導介質的選擇而完成
19.3 焊接系統 連接作用的可靠度是視焊接接合處的堅 固與否而定的 基本活化焊料的熱傳導方法能藉著熱傳 導介質的選擇而完成 氣相、紅外線、雷射、傳導帶和感光板 、對流、焊鐵和熱棒都是SMT可能使用 的方法 波焊接是SMT和IMT混合時所用的方法 之一 505
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19.3 焊接系統 505
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19.3 焊接系統 506
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19.3 焊接系統 典型的電路板的加工過程如下: 塗敷助劑使得板面形成一液相層,以除 去表面氧化物,且使填充金屬具有流動 性,完全濕潤接合表面 加熱元件以提高溫度,直至適合軟焊料 黏著為止 利用空氣刀除去多餘助焊劑 在設定的高度下,將電路板通過液態軟 焊料波的波峰 清洗循環 506
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19.3 焊接系統 汽相 (VP) 是一種非接觸不需介質,使用輻射能的熱傳導系統,汽相焊接則是沒有導線和導線元件混合,元件放置位置不平均和熱容量不平均,且密度超過5 mm時所用的方法 紅外線 (IR) 是一種凝固的焊接技術,使用無氧化學純氣去進行安裝,它可產生很高的溫度快速熔化焊料 506
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19.3 焊接系統 507
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19.3 焊接系統 507
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19.3 焊接系統 循環特質 預熱階段 焊接階段 冷卻階段 升溫,如同一般則,焊接循環一開始是升高組件的溫度到 ,以大約每秒 的速率
19.3 焊接系統 循環特質 預熱階段 升溫,如同一般則,焊接循環一開始是升高組件的溫度到 ,以大約每秒 的速率 均溫,組件溫度以每秒 持續升高,直到 焊接階段 冷卻階段 508
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19.3 焊接系統 508
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19.3 焊接系統 助焊劑 助焊劑通常是一種液體,應用於導體的裝 配面焊接時用以除去污物 助焊劑在受熱時具有四種功用: 和氧化物產生化學反應
19.3 焊接系統 助焊劑 助焊劑通常是一種液體,應用於導體的裝 配面焊接時用以除去污物 助焊劑在受熱時具有四種功用: 和氧化物產生化學反應 保護表面不再被氧化 促進熱轉移和傳輸 降低焊料的黏著力使之易潤溼 509
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19.3 焊接系統 樹脂助焊劑-存在三種型式:非活性的、中等活性的和完全活性的
19.3 焊接系統 樹脂助焊劑-存在三種型式:非活性的、中等活性的和完全活性的 有機水溶性助焊劑:較常運用的助焊劑,這些助焊劑比樹脂助焊劑高約 才會裂解,最常用有三種:合成樹脂 (SR)、有機酸 (OA) 和合成活化助焊劑 (SA) 無機水溶性助焊劑 509
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19.3 焊接系統 軟焊料 選擇焊料時,許多考量:液化和固化的溫 度、強度、抗腐蝕性、電及熱傳導性和熱 延展性
19.3 焊接系統 軟焊料 選擇焊料時,許多考量:液化和固化的溫 度、強度、抗腐蝕性、電及熱傳導性和熱 延展性 軟焊料皆做成小的、球狀的粒子,使能均 勻地懸於助焊劑和其它榮劑中 軟焊料常考慮金屬和有機物兩部分的混合 ,此二部分的重量和體積比亦對儲存、黏 度、應用的方法及最後迴焊接點的體積有 著相當的影響 510
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19.3 焊接系統 510
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19.3 焊接系統 環氧導電黏著劑 環氧黏著劑被用於高溫或低溫
19.3 焊接系統 環氧導電黏著劑 環氧黏著劑被用於高溫或低溫 低溫烘烤將解決熱感應元件的問題但是需 要較長烘烤時間,高溫烘烤可以使用和一 般軟焊一樣的IR焊接機 環氣黏劑對大部分材料皆不用表面調製劑 510
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19.4 焊接點的設計 通孔接點的分析 彎曲接腳及電鍍貫通孔: Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ 區 直接腳及電鍍貫通孔:Ⅴ、、Ⅲ、Ⅳ 區
19.4 焊接點的設計 通孔接點的分析 彎曲接腳及電鍍貫通孔: Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ 區 直接腳及電鍍貫通孔:Ⅴ、、Ⅲ、Ⅳ 區 彎曲接腳連單邊面板:Ⅰ、Ⅱ 區 以直接的接腳和單面板:Ⅴ 區 511
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19.4 焊接點的設計 511
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例題19.1 垂直元件連接 ( 圖19.10)。 當軸向接腳元件串連時,每一元件體或焊珠 ( 接腳始處 ) 應在從PWB算起0.030至0.090吋之 間,而機械打結應在元件體之0.090吋以外。然 而,元件係串連在一起且平行板面時,每一元 件接腳應糾在一起,並且至少約離元件體0.090 吋。打結後,需離元件體0.060吋以上。為了免 於焊珠沾滑向下使得接近程度小於1個接腳直 徑,打結始於離元件本體0.125吋以外。( 見習 題19.1) 512
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例題19.1 512
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例題19.2 包覆的接腳焊接 ( 見圖19.11)。 焊料必須至少離開元件體一接腳直徑。 焊接至少確實填滿75% 於接腳間,並不
可以有空洞。焊料可以過量,但不可以 凸得很多或者是將接腳的本形整個蓋住 看不到。 513
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例題19.2 513
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例題19.3 機械栻纏繞的導線連接 ( 圖19.12)。 軟焊接前,線被平緩地、緊密地纏繞 至1.5圈,以避免任何可能的短路,纏繞 必須以相同方向繞圈。 513
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例題19.4 基準記號 ( 圖19.13)。 基準記號是電路板上銅面的參考點,可以用來 精準排列元件和工具,為了目視系統需要,基 準點被蝕刻在板上以降低量測上累積的公差值 。對每塊板子有三個全尺度性的基準點以對準 間距以放置SMD,另外兩個基準是對準精細裝 置之用。基準的尺寸是直徑0.04吋、間隙0.02 吋。 513
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例題19.4 514
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19.5 熱力學特質 封裝引導熱量從元件到環境中,以熱力 阻抗的形式表示其能力,用 表示
19.5 熱力學特質 封裝引導熱量從元件到環境中,以熱力 阻抗的形式表示其能力,用 表示 常分為兩因子:從接點至外殼 (case) 至周圓環境 (ambient) 514
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19.5 熱力學特質 表從晶片至周圍環境的熱流的總阻抗, 以下式表示 傳導熱傳 之熱阻,可表示如下,其平板維 持於溫度T1和T2 其中
19.5 熱力學特質 表從晶片至周圍環境的熱流的總阻抗, 以下式表示 傳導熱傳 之熱阻,可表示如下,其平板維 持於溫度T1和T 其中 (19.1) (19.1) 514
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19.5 熱力學特質 接面溫度是IC在基材二極體所測出的溫度,當 元件被導通、熱量產生使溫度 升至周圍溫 度 以上,接合溫度是以能量分散 和熱阻 抗 相乘且加上環境溫度 (19.3) 515
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例題19.5 從組件到印模板上的限制阻抗是 。從 晶片頂面到槳的頂面的阻抗則需要去計算。假 設晶片是20 mils厚且0.15吋 (0.381cm) 寬,環 氧層附上矽至金屬支橕板是5miks厚,矽的熱 導係數是 ,而環氣物是 問題全部轉公制長度單位,然後使用 (19.2) 方 程式,所以晶片阻抗是 515
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例題19.5 同樣地,環氧樹脂阻抗可算出是 根據方程式 (19.1) 組件,環氧物和限制阻抗總 和是 515
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19.5 熱力學特質 516
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19.6 電磁交互作用和去除靜電荷 電子製造中有另外兩重要因素需要考慮 ,一個是電磁交互干擾 (EMI),另一個 是靜電消除 (ESD)
19.6 電磁交互作用和去除靜電荷 電子製造中有另外兩重要因素需要考慮 ,一個是電磁交互干擾 (EMI),另一個 是靜電消除 (ESD) 516
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19.6 電磁交互作用和去除靜電荷 電磁作用 任何一個隨時間改變電壓或電流的裝置, 會產生電磁能,也因此產生EMI,低頻磁 場的高標準衰減能使用高磁導性材料而達 成 EMI填塞物的主要功能是用來降低接點間 的交互作用力,阻抗愈低EMI封閉愈好, 阻抗愈高,封閉性愈差 516
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19.6 電磁交互作用和去除靜電荷 516
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19.6 電磁交互作用和去除靜電荷 接點阻抗是數個因素的函數:凸緣的阻抗 、凸緣與填塞物的適配性、填塞物的壓力 和填塞物的傳導性,倘若填塞物的傳導性 會在特定環境條件下退化,EMI的性能也 會降級;此為EMI填塞物失效之主因 517
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19.6 電磁交互作用和去除靜電荷 靜電去除 靜電可出現在人身體,若未去除則不要以 手去處理另件,ESD會傷害通道及晶片
19.6 電磁交互作用和去除靜電荷 靜電去除 靜電可出現在人身體,若未去除則不要以 手去處理另件,ESD會傷害通道及晶片 最常用的除靜電的方法是“ 接地或腳環” 517
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19.7 清潔過程 水溶液清潔 半水溶液清潔 易混於水的清潔 溶劑 - 溶劑清潔 過氟化水洗 新發展方法 517
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19.7 清潔過程 519
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例題19.6 決定水溶性糊團省略清潔步驟的影響的測試是 基於SIR測量,這測試是在相對濕度90% 濕室 內和 進行。如圖19.17中的圖案,在烘箱中以 48 VDC輸入和100 V放24小時。假設SIR量測 最小值是 歐姆,清潔是可接受的,且 PWB的SIR沒受影響,測試使用4種不同的焊糊 ,其結果如圖19.18清潔前,所有焊糊皆在較低 限內,清潔後,焊糊D.A和C ( 依除去遞減的順 序 ) 通過測試,而焊糊B未能有效除去。 519
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例題19.6 519
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例題19.6 520
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19.8 封裝技術的出現 較早之前的說法,IC或“ chips”是指 含有數百或數千的電晶體的矽晶結合而 形成各種的電路功能,它們又小又精巧 ,以致於他們在被和另一個封裝組合前 必須先封閉封裝,第二個封裝是現行被 組於電子裝置和產品的電路板 520
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19.8 封裝技術的出現 520
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19.8 封裝技術的出現 521
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19.8 封裝技術的出現 521
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19.8 封裝技術的出現 假設每邊的平均零件尺寸是0.25吋影響未 來封裝的因素包括:
19.8 封裝技術的出現 假設每邊的平均零件尺寸是0.25吋影響未 來封裝的因素包括: 三維封裝:Flip-chip 技術和所有平面交互連 接將允許零件或交互平面導通進行三度空間 堆疊。 軟焊代替品:熔融焊接將被低溫有機導電黏 劑取代,精確的雷射將成為細縫接點組合, 再加工和修理,組裝線量測及自動疊層對準 工具。 光電:光纖將取代許多導線,即使是放在局 部系統和組件內,光學接收器和轉接換器將 是電路板上傑出的元件。 521
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