CJPL中0vDBD实验 读出电子学初步设计

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1 CJPL中0vDBD实验 读出电子学初步设计
董家宁、刘树彬、安琪 核探测与核电子学国家重点实验室 中国科学技术大学

2 目录 CJPL中0vDBD实验 AGET芯片 读出电子学初步设计 小结

3 目录 CJPL(China JinPing Underground Laboratory )中0vDBD实验 AGET芯片
读出电子学初步设计 小结

4 0vDBD(0v Double Beta Decay)
双β衰变 一类原子核由于能量原因，不能发生一次β衰变， 但可以发生连续的两次β衰变过程。 例如：136Xe→136Ba+2e-+2ν 无中微子双β衰变 例如： 136Xe→136Ba+2e-  半衰期~1025 年 轻子数不守恒！ 中微子的反粒子是它本身！

5 寻找0vDBD事例的实验需求 超低本底工作环境 高能量分辨率（~3%） 高空间分辨率 空间大范围成像
CJPL，目前世界上最深的地下实验室 高能量分辨率（~3%） 高空间分辨率 空间大范围成像 CJPL，垂直岩石覆盖达2400米；低本底：10-3/(keV*kg*yr) TPC是目前常用的大范围成像探测器，它具有良好的空间分辨能力。

6 TPC（Time Projection Chamber）
可同时测量带电粒子的三维空间坐标和动量 空间分辨率高 动量分辨率好 工作气体：氩气，氙气等 端盖读出：多丝正比室、GEM、 Micromegas等 TPC是由美国劳伦斯贝克莱实验室（LBL）的D.R.Nygren博士于1974年提出的。最适用于对撞机物理实验 采用气体探测器读出的优点：读出pad设计灵活；计数率高；收集信号速度快；读出探测器部分的电场不会影响到漂移区电场的均匀性。 GEM：气体电子倍增探测器；Micromegas：微网格气体探测器

7 TPC在国内外实验中的应用 Large Underground Xenon experiment
Particle and astrophysical Xenon Detector Enriched Xenon Observatory PandaX I的初步结果已经发表，发现46个疑似事例，不过已经证实全是本底。

8 CJPL中0vDBD实验---PandaX III
探测器：TPC 工作气体：氙气 TPC端盖读出：Micromegas 工作压强：10-15bar 尺寸，长2m，端盖直径1.4m 1.4m 2m

9 端盖读出探测器---Micromegas
漂移区(driftg即s或eonversionspaee，3-10mm)和放大区(amplifieationgaps，100um量级)。工作时漂移区内的电子穿过微网到达放大区发生雪崩，并通过相应的电极进行信号收集。Micromegas探测器具有高计数率、高增益、良好的时间分辨和位置分辨、优良的抗辐照性能等一系列优点 计数率高 增益高 时间分辨好 位置分辨率高 低本底 抗辐照性能优良

10 MicroBulk工艺 放大缝隙均匀 微网质量高 雪崩涨落小 能量分辨率高
PandaX III实验使用Mmegas的尺寸：20cm×20cm

11 PandaX III的读出通道数 TPC的端盖有效读出面积为 2*π*(0.7)2 m2
选用的Mmegas大小为 20cm×20cm（共需要98个） Mmegas的每一个pad大小 为3mm×3mm 采用pad读出，每个Mmegas的读出通道数约为4000； 总读出通道数高达~39万！ 采用两维strip读出，每个Mmegas的读出通道数约为134；总读出通道数13132。

12 PandaX III 的信号特点 漂移速度: 1mm/us （由电场强度、气压决定） 漂移距离: ~1m
Electron tracks in our experiment will travel 30 cm, following a wiggly trajectory. This means that the energy information must be extracted from a mesh area which is a factor 10 larger than the one used in the previously stated measurements. Moreover, the time spread of the signal will be also longer. This may impose constraints on the front-end electronics (shaping or sampling times). MicroBulk Mmegas pad size ~3mm×3mm 漂移速度: 1mm/us （由电场强度、气压决定） 漂移距离: ~1m 对2.5MeV的电子，径迹总长度: ~30cm  tf = 300us (Max)

13 Shaping time /Peaking time
ASIC芯片参数对比 ASIC Channel Input range Shaping time /Peaking time APV25 128 20fC(+/-) 50ns-200ns VA32HDR14.3 32 -20pC 2us VA140 64 200fC(+/-) 6.5us AGET 10pC(+/-) 50ns-1us 每个电子需要的能量大约是30eV，这就是10<5>个电子，若基于microbulk工艺的mm增益选为400，这时的输入电荷量则高达6.4pC。 对Xe来说，产生0vDBD的Qee约为2.5MeV，这就要求输入动态范围要到pC量级；信号径迹特点要求成形时间也需尽量大。 AGET芯片是比较理想的ASIC芯片！

14 目录 CJPL中0vDBD实验 AGET芯片 读出电子学初步设计 小结

15 AGET （ASIC for a Generic Electronic system for TPCs）
64 analog channels: CSA, Filter, SCA(512 cells), Discriminator Auto triggering: discriminator + threshold (DAC) SCA readout mode: All, hit or specific channels 4 charge ranges/channel: 120fC; 240fC;1pC;10pC 16 peaking time values: 50ns to 1us Fread: 25MHz Fsampling: 1MHz to 100MHz Input current polarity: positive or negative Possibility to bypass the CSA: enter directly into the RC2 filter or SCA inputs 法国saclay研究所设计的ASIC； Technology: AMS CMOS 0.35um Area: 8.55mm×7.6mm components Packaged in 160-pin LQFP(28×28×1.4mm3)

16 AFTER（ASIC For TPC Electronic Readout）
AGET芯片是在AFTER芯片的基础上 进行改进的。 AFTER芯片已使用于T2K实验。 T2K （Tokai to Kamioka experiment）

17 PandaX III的设计约束 制约因素 设计考虑 初步设想方案 输入脉冲宽度高达300us(max)
采样序列总长度：512 samples/通道 采样率：1MHz - 100MHz 可调 达峰时间：50ns - 1us 可调 初步设想方案 达峰时间设为最大值（1us） 采样率与时间窗口互为制约，应综合权衡 如采样率设为2MHz，则时间窗口为256us 系统死时间: ~1.3ms (=40ns*512*64) 读出速度： 25MHz

18 固定采样率和成形时间、不同输入波形的测试结果
采样率2MHz 达峰时间1us 输入电荷0.6pC 输入脉冲宽度30ns或1.6us 不是简单的波形采样，波形采样后还做了积分，这就有可能实现对高脉冲时间信号的读出。 分析结果：数值积分误差1%左右 1us达峰时间, 2MHz采样率的方案是可行的！

19 目录 CJPL中0vDBD实验 AGET芯片 读出电子学初步设计 小结

20 PandaX III读出电子学架构 使用AGET芯片搭建 ASIC芯片读出+分立元件读出 使用分立元件搭建

21 可参考读出系统1：FEC+Feminos 可实现6144路通道的读出！
可以用来做测试，验证AGET芯片，可实现6144路信号的读出，原型设计中使用。 ADC：Analog Devices AD9229 可实现6144路通道的读出！

22 可参考读出系统2：GET读出系统 AsAd：4AGET+ADC
CoBo：applying time stamp， zero suppression and compression algorithms to the data MuTanT：providing trigger and clock 大系统读出时，还是要选用GET读出系统，一套读出系统可实现10240路信号的读出，可以较轻松的实现我们对庞大的读出路数的要求（13132）。 CoBo and MuTanT are set in uTCA carte. 可实现10240路通道的读出！

23 可参考读出系统2：GET读出系统 AsAd 256 channel front-end board 4 AGET Chips CoBo
除了这两种读出系统之外，还有一种系统也是我们实验室正在研究的SRS系统（可扩展读出电子学系统），它也适用于这种大数据的读出，但是，在SRS系统中，ADC需要放在远离探测器的机箱中，在我们的0vDBD实验中，这将会带来巨大的本底噪声，因此本实验没有考虑SRS系统。 CoBo Controls 4 AsAd Virtex 5 FPGA MuTanT Controls 10 CoBos

24 各电子学模块 FEC DAQ 触发模块 对Mmegas输出的模拟信号进行放大成形，并转换成 数字信号串行输出 可以实现256路通道的读出
需求数量：~52 DAQ 对FEC输出的数字信号进行数据整理、打包，并传输 到电脑进行数据处理 可以实现8块FEC（最多）的数据传输 需求数量：~7 触发模块 为DAQ提供触发和时钟，可控制多块DAQ同时工作 可以控制16块DAQ（最多）同时工作 需求数量：~1

25 FEC(Front End Card)的设计考虑
AGET芯片 x4 ADC通道 x4 FPGA x1 自定义LVDS串行总线进行数据传输 USB接口，供调试和电子学测试 每块FEC通道数为64x4=256，考虑到总通道数为13132， 则共需要52块FEC FEE

26 DAQ(Data Acquisition)的设计考虑
1个FPGA（内嵌RISC处理器软核或硬核） 8个FEC接口 （最多） 1个触发模块接口 1个电源输入及转接口 1个RS485接口供状态监测/慢控制 1个光纤千兆以太网接口 (总数据 考虑到FEC共有52块，则至少需要 7块DAQ SFP （Small Form-factor Pluggable）可以理解为GBIC(Gigabit Interface Converter)的升级版本，SFP模块体积比GBIC模块减少一半，可以在相同面板上配置多出一倍以上的端口数量。 DAQ

27 触发模块的设计考虑 1个FPGA（内嵌RISC处理器软核或硬核） 16个DAQ接口（最多） 兼具时钟分发功能
1个RS485接口供状态监测/慢控制 考虑到DAQ至少有7块，则至少 需要1块触发模块 触发模块

28 目录 CJPL中0vDBD实验 AGET芯片 读出电子学初步设计 小结

29 小结 探测稀有的0vDBD事例需要具备低本底、高能量分辨、 高空间分辨、空间大范围成像等条件；
在CJPL开展的PandaX III实验使用TPC+Micromegas作为 探测器，基本满足该实验需求； 对Micromegas输出的脉冲宽度较大的信号，AGET芯片 可以比较理想的处理； 基于AGET的读出电子学框架已经提出，并且正在进行 初步设计。

30 谢谢！