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指導老師：黃貞芬 老師 專題組員：B09010018 黃育宇 B09010028 魏志軒 B09010040 平震宇
晶圓允收測試系統－ 以立生半導體股份有限公司為例 指導老師：黃貞芬 老師 專題組員：B 黃育宇 B 魏志軒 B 平震宇
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大綱 開發背景與研究動機 系統特色 系統線上運作模式 功能架構 系統展示 未來展望 特別感謝
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開發背景與研究動機 晶圓允收測試 Delphi的單機AP 何謂Wafer Acceptance Test? 為何要WAT?
品質確保 等級分派 報告製作 Delphi的單機AP 開發工具版本差異過大 須先安裝Oracle Client及相關驅動程式
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系統特色 以Java Applet製作 建立用戶端暫存資料庫 整合使用者提出之需求 具有單機JAVA AP開發上及使用上彈性
使用Client端資源-降低伺服器的負擔 建立用戶端暫存資料庫 減少資料庫伺服器的重複性Loading 同批資料使用暫存資料庫繪圖-不必重新下載 整合使用者提出之需求
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系統線上運作模式
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功能架構
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系統展示 主要展示功能 WAT SPC WAT Report Alarm-Setting & Chart
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未來展望-improvement 下載資料速度過慢 須確保暫存資料庫（.mdb）的存在 原始Delphi AP: Paradox資料庫元件
WebWAT System: Windows內建ODBC驅動 使用方式: JDBC-to-ODBC Driver 15000筆資料: 3秒 VS 10秒 須確保暫存資料庫（.mdb）的存在 ODBC Access Driver限制 其他ODBC使用限制 ex: dBase
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特別感謝 黃貞芬老師 立生半導體資訊管理部門 楊經理 蕭課長 MIS人員 光廷、玟杰學長
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