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Published byEncarnación Sara Serrano Modified 5年之前
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四技光電三A 光電半導體 分組報告 主題 : 磊晶成長 指導老師:蔡夢華 助理教授 報告人:第三組 黃冠翔 4970B048
光電半導體 分組報告 主題 : 磊晶成長 指導老師:蔡夢華 助理教授 報告人:第三組 黃冠翔 4970B048 黃國棠 4980B001 蘇慶倫 4980B003 楊佳諶 4980B004 宋綱祥 4980B005
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․何為磊晶? 了解 磊晶 (Epitaxy) *從字義上來看是源自於希臘的兩個字 * epi:在某物之上
* taxies:安排好的,有秩序的 *磊晶製程是在單晶片上長一層薄的單晶層
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․磊晶目的? 了解 磊晶 (Epitaxy) *源自於雙載子電晶體的載體層 *比晶圓晶體有較低的氧碳濃度
--在高集極崩潰電壓時用來降低集極電阻 *比晶圓晶體有較低的氧碳濃度 所以可增強動態隨機記憶體(DRAM) 互補型金氧半電晶體積體電路(CMOS IC) 的性能
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․磊晶應用? 了解 磊晶 (Epitaxy) ~矽磊晶層在雙載子電晶體的應用~ 射極 基極 集極 Al•Cu•Si(鋁.銅.矽)
SiO2 (二氧化矽) n + p n + p+ p+ N型磊晶層 電子流 n + 深埋層 P型晶片 ↑本圖轉用自歐亞書局出版半導體製程技術導論 P106 圖4.19(a)
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․磊晶應用? 了解 磊晶 (Epitaxy) ~矽磊晶層在CMOS的應用~ 金屬 1, Al•Cu W BPSG n+ n+ p+ p+
STI USG P型井區 N型井區 P型磊晶矽 P型晶圓 ↑本圖轉用自歐亞書局出版半導體製程技術導論 P106 圖4.19(b)
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了解 磊晶 (Epitaxy) 氣相磊晶(MOCVD) →高溫(約1000度C)CVD的矽磊晶層成長是 半導體工業用來長單晶矽層的方法。
→一般常用的矽源材料氣體(Silicon Source Gases)是矽烷(SiH4)、二氯矽烷(DCS,Si H2Cl2) 、三氯矽烷(TCS,SiHCl3)
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磊晶矽成長步驟的化學反應式為: SiH4 → Si + 2H2 SiH2Cl2 → Si + 2HCl
(加熱 攝氏1000度) SiH4 → Si H2 矽烷 磊晶矽 氫 (加熱 攝氏1100度) SiH2Cl2 → Si HCl 二氯矽烷 磊晶矽 氯化氫 (加熱 攝氏1100度) SiHCl3 → H2 → Si HCl 二氯矽烷 氫 磊晶矽 氯化氫
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*磊晶矽也可使用氣相摻雜物,如砷化 氫(ASH3)、三氫化磷(PH3)和氫化硼 (B2H6)與矽源材料氣體在反應器內成 長薄膜時進行摻雜的動作。 *在高溫中,這些摻雜的氫化物受熱分 解而釋放出砷、磷、硼進入磊晶矽薄 膜中。這就可以達成磊晶層的臨場摻 雜(In-situ Dooing)。
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臨場摻雜的化學反應式為: AsH3 → As + 3/2H2 PH3 → P + 3/2H2 B2H6 → 2B + 3H2
(加熱 約攝氏1000度) AsH3 → As /2H2 砷化氫 砷 氫 (加熱 約攝氏1000度) PH3 → P /2H2 三氫化磷 磷 氫 (加熱 約攝氏1000度) B2H6 → 2B H2 氫化硼 硼 氫
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了解 磊晶 (Epitaxy) 磊晶成長步驟 磊晶矽成長和摻雜製成 SiH2Cl2 AsH3 H2 HCl Si AsH3 As H
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矽源材料氣體在不同溫度下磊晶矽 成長速率 質量傳輸控制區 表面反應控制區 1000/T(K) 1300 1200 1100 1000 900
800 700 1.0 0.5 SiH4 0.2 質量傳輸控制區 0.1 SiHCl3 0.05 表面反應控制區 0.02 SiH2Cl2 0.01 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1 1000/T(K) ↑本圖轉用自歐亞書局出版半導體製程技術導論 P108 圖4.21
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了解 磊晶 (Epitaxy) 磊晶的硬體設備 磊晶系統 單一晶圓系統
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桶狀式反應器(Barrel Reactor)
輻射加熱線圈 晶圓 ↑本圖轉用自歐亞書局出版半導體製程技術導論 P110 圖4.22
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垂 直 式反應器(Vertical Reactor)
晶圓 反應物 加熱線圈 反應物及副產品 ↑本圖轉用自歐亞書局出版半導體製程技術導論 P110 圖4.22
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水平式反應器(Horizontal Reactor)
加熱線圈 晶圓 反應物 反應物及副產品 ↑本圖轉用自歐亞書局出版半導體製程技術導論 P110 圖4.22
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了解 磊晶 (Epitaxy) 磊晶製成 過程為:1.先氫氣沖洗,溫度(約攝氏1150)升高然將,
2.氯化氫氣體輸入反應器以清潔反應器內部, 可以幫助可移動離子數量減少,避免鈉污染, 3.將矽的源材料氣體和摻雜物輸入反應器中開 始磊晶薄膜成長 4.完成之後再使用氫氣沖洗,等反應器溫度冷 卻後再用氮氣沖洗直到和常溫相同為止 5.之後打開反應室,晶圓卸載和再裝載
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磊晶製程,單晶圓磊晶系統 過程為:1.先使用氫氣沖洗清潔,使反應器 溫度升高 2.將矽源材料放入反應器進行磊 晶薄膜成長
3.之後用氫氣沖洗,停止加熱 4.晶圓卸載和再裝載 5.用氯化氫清潔反應室
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磊晶層可能的缺陷 表面成核造成堆疊錯誤 由基片堆疊錯誤造成的堆疊錯誤 差排 雜質微粒 尖凸物 磊晶層 基片
↑本圖轉用自歐亞書局出版半導體製程技術導論 P113 圖4.24
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了解 磊晶 (Epitaxy) 磊晶的未來趨勢 1.大晶圓尺寸 2.單晶圓磊晶成長 3.降低磊晶成長的溫度
4.超高真空化學氣相沉積法(UHV,到10-9托) 5.選擇性磊晶
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結語&摘要 1.矽是不昂貴半導體,價格便宜,強介 電值和容易氧化成長. 2.<100> 和 <111>晶向平面
3.切片,切邊,研磨,蝕刻和化學機械研 磨製程 4.為雙載體和高效能的CMOS, DRAM. 5.矽烷,二氯矽烷,三氯矽烷做為矽源材 料氣體 6.B2H6(氫化硼)做為P-型矽摻雜物 7.PH3(三氫化磷)和AsH(砷化氫)做為N-型矽摻雜物
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