μ子寿命测量 10300300053 王纬臻 合作者 10300190077 吴泽文 指导老师:乐永康
μ子来源
μ子寿命 衰变速率 一定 积分 “寿命” 衰变概率
μ子寿命 单个μ子在dt内衰变概率为 设第i个μ子的产生时刻为 ,则在t时刻衰变概率为 第i个μ子到达时刻为 ,则 内衰变概率 若实验共测量到M个μ子衰变事件,则在 内,衰变的总μ子数为
μ子探测
实验装置
实验结果 采集时间513032s 事件总数1132370 衰变事件2193 道宽500ns、1000ns、2000ns 道宽20ns
实验结果 本底计算 实验结果拟合 理论计算
实验结果 道宽500ns 拟合本底 理论本底
实验结果 道宽1μs 拟合本底 理论本底
实验结果 道宽2μs 拟合本底 理论本底
实验结果 采集半年数据
实验结论 μ子衰变数随时间服从指数规律,使用闪烁体和可编程逻辑器件探测自然界中的μ子,可以测量其寿命,以及正反两种μ子的数量之比。
参考文献 [1] T.E. Coan, J. Ye. Muon Physics. [2] 孙腊珍,吴雨生,李澄. μ子寿命测量实验. 物理实验,2010年2月,第30卷第2期第1页 [3] 吴雨生,吕治严,李数,李澄,孙腊珍. 一种简便的μ子寿命测量实验设计. 中国科学技术大学学报,2010年6月,第40卷第6期第608页 [4]http://zh.wikipedia.org/wiki/%E5%8F%8D%CE%BC%E5%AD%90
Q&A