指導老師:黃貞芬 老師 專題組員:B09010018 黃育宇 B09010028 魏志軒 B09010040 平震宇 晶圓允收測試系統- 以立生半導體股份有限公司為例 指導老師:黃貞芬 老師 專題組員:B09010018 黃育宇 B09010028 魏志軒 B09010040 平震宇
大綱 開發背景與研究動機 系統特色 系統線上運作模式 功能架構 系統展示 未來展望 特別感謝
開發背景與研究動機 晶圓允收測試 Delphi的單機AP 何謂Wafer Acceptance Test? 為何要WAT? 品質確保 等級分派 報告製作 Delphi的單機AP 開發工具版本差異過大 須先安裝Oracle Client及相關驅動程式
系統特色 以Java Applet製作 建立用戶端暫存資料庫 整合使用者提出之需求 具有單機JAVA AP開發上及使用上彈性 使用Client端資源-降低伺服器的負擔 建立用戶端暫存資料庫 減少資料庫伺服器的重複性Loading 同批資料使用暫存資料庫繪圖-不必重新下載 整合使用者提出之需求
系統線上運作模式
功能架構
系統展示 主要展示功能 WAT SPC WAT Report Alarm-Setting & Chart
未來展望-improvement 下載資料速度過慢 須確保暫存資料庫(.mdb)的存在 原始Delphi AP: Paradox資料庫元件 WebWAT System: Windows內建ODBC驅動 使用方式: JDBC-to-ODBC Driver 15000筆資料: 3秒 VS 10秒 須確保暫存資料庫(.mdb)的存在 ODBC Access Driver限制 其他ODBC使用限制 ex: dBase
特別感謝 黃貞芬老師 立生半導體資訊管理部門 楊經理 蕭課長 MIS人員 光廷、玟杰學長