實驗七 電阻的溫度係數 Temperature Coefficient of Resistance

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實驗七 電阻的溫度係數 Temperature Coefficient of Resistance

一、目的(object) 物質在不同溫度下操作時,根據不同的物理機制主導會顯 現出相對應之電阻,如金屬、半導體或超導體等物質。 測量銅(copper)的電阻溫度係數。 測量NTC(負溫度係數negative temperature coefficient)熱敏電 阻(thermister)的電阻溫度係數。 比較銅(copper)和NTC(負溫度係數negative temperature coefficient)熱敏電阻(thermister)之電阻溫度係數間的差 異。

二、理論(theory) 一般而言,影響導電體(electric conductor)電阻值 (resistance value)的主要因素有兩個: (1) 自由載子(free carrier)在運動中與晶格(crystal lattice)的碰撞機率(影響較小)。 (2) 自由載子在導電體內的密度(影響較大)。

金屬導體(metal conductor) 金屬導體(metal conductor):在有限的溫度範圍內, 其自由電子(free electron)的密度,不會有所改變, 所以其電阻值隨溫度的變化,完全由自由電子在漂移 運動(drift)中與晶格碰撞的機率來控制,當溫度升 高時,晶格振動加大,使自由電子與其碰撞的機率升 高,故電阻值上升有正溫度係數。

金屬導體之電阻 其電阻與溫度間的關係如下式所示: R(T)=R0〔1+α(T-T0)〕……………………(1) 式中

熱敏電阻 熱敏電阻: (1)熱敏電阻的導電現象十分複雜,導電的基本結構,是 由同種金屬中,不同原子價(valence)的正離子,相 互間在晶格中移動所產生。 例如:     (等效於正電荷左移一個晶格) (2)因為金屬離子(metal ion),在晶格間的移動,隨著 溫度的上升,加大了發生機率(等效於加大了導電體 中載子的密度),所以電阻反而大幅下降,

熱敏電阻 熱敏電阻: (3)熱阻體的電阻和絕對溫度T間,有以下近似的關係: …………………………..(2) 式中 式中  R(T):熱敏電阻在絕對溫度T時之阻值 R0:熱敏電阻在絕對溫度298.2 K(25℃) T0:絕對溫度298.2 K α:熱敏電阻的溫度係數

熱敏電阻 熱敏電阻: (4)將公式(2)兩端取ln值,則: .............………..(3) (與Y=Y0+αX對照) 表示熱敏電阻之ln值,與絕對溫度的倒數間有直線關 係,此直線的斜率即為α值。

熱敏電阻 熱敏電阻: (5)現在商品化的物件,工作溫度範圍約在-50℃到 350℃之間,要 有較高的〝初始阻值(initial resistance)〞R0,及較低的溫度係數α 。

凱爾文電橋 凱爾文電橋(Kelvin double bridge)的四端 測電阻法,專門用來 測量低電阻與其微小 變化,而其操作程序 、線路設計與原理, 如18頁所示,圖中Rx 表示待測電阻,VR (Rv)表示可變電阻。

當電橋達成平衡時,按下Test鈕,電壓計顯示為0,此 時待測電阻Rx值為 Rx=比例 ×Rv 比例= 圖一 惠斯通雙電橋 液晶顯示器 比例按鈕

三、 方法(method) 利用加熱鍋,同時加熱銅線與熱敏電阻,經由與二 者相接觸的溫度計測量溫度。 因為銅線電阻小,電阻值隨溫度的變化亦小,故需 要用雙電橋電路,精確測量其電阻到小數點第二位。 但熱敏電阻有很大的負溫度係數,電阻值隨溫度變 化的範圍很大,直接由三用電表(multimeter)歐姆 檔,測其阻值即可。

四、注意事項(notes) 加熱鍋的內外鍋勿加水,以免漏(觸)電並造成儀 器損毀。 各線路連接線勿碰觸加熱鍋,以免實驗中因加熱鍋 高溫而導致連接線外皮(絕緣層)燒融。

五、問題與討論 商品化的熱敏電阻電子元件中,電阻對溫度之變化 曲線常用到的有哪些形態? 電阻對於物體之幾何結構會有相依性嗎?