凌云Themis 成像器件光电性能 测试系统
Themis成像器件光电性能测试系统 如何选择相机?如何评估相机整体性能? 信噪比 动态范围 量子效率 暗电流 光子相应不一致性 光谱响应 系统总增益、量子效率、光谱响应、动态范围、信噪比、暗电流、光子响应不一致性、暗场信号不一致性。。。。
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Themis成像器件光电性能测试系统 EMVA1288欧洲机器视觉协会测试标准 EMVA1288物理模型 EMVA1288数学模型 弹出参数:系统总增益、量子效率、光谱响应、动态范围、信噪比、暗电流、光子响应不一致性、暗场信号不一致性。。。。
Themis成像器件光电性能测试系统 可测芯片/相机的光电性能 测量项目 总增益(K) DN/e- 随机噪声() DN e- 饱和输出(μe.sat) 最大 ke- 线性 动态范围(DR) X(倍数) dB 最大信噪比 DSNU 暗电流 e-/s 线性度 %(±) PRNU1288 % 图像传感器件量子效率QE
Themis成像器件光电性能测试系统 凌云测试系统特点: 小巧紧凑、高度集成 支持多种相机接口 一键式操作软件 客户定制化硬件选型 产品受众: 常使用相机的用户:相机横向对比 生产设计相机的用户:原理样机测试、相机出厂检测与标定等
Themis成像器件光电性能测试系统 凌云EMVA1288测试系统发展历程 科学定制测试平台 紧凑Mini型测试平台 标准型测试平台
Themis成像器件光电性能测试系统 凌云公司小型测试平台系统组成 选择1: LED光源 小型化暗舱设计 相机接口 选择2: 积分球 光源 光学接口:C\CS\F\M42等 紧凑Mini型测试平台组成 选择3: 窄带滤光片 数字接口:CamLink\USB\ HS Link\1394等 可测芯片类型:CCD\CMOS\SCMOS\EMCCD\近红外等
Themis成像器件光电性能测试系统 凌云EMVA1288测试系统界面截图
Themis成像器件光电性能测试系统 实测参数 明场均值 明场噪声 暗场均值 方差明暗差 测量项目 项目 结果 单位 总增益(K) 0.0955 DN/e- 随机噪声() 3.348 DN 35.06 e- 饱和输出(μe.sat) 最大 4080.47 42.74 ke- 线性 3955.11 41.43 动态范围(DR) 1218.90 X(倍数) 61.72 dB 1181.45 61.45 最大信噪比 203.05 46.15 DSNU 0.47 4.90 暗电流 201541 e-/s 线性度 0.243025883 %(±) PRNU1288 1.30 % 图像传感器件量子效率QE 86.38%
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