第十二章 離散小波轉換之相關浮水印技術
Outlines 離散小波轉換基本浮水印技術 多重解析度浮水印技術 影像驗證浮水印技術 方法一 方法二 實驗結果 亂數攪亂與影像相關攪亂 浮水印藏入及取回流程 影像驗證浮水印技術 介紹
離散小波轉換基本浮水印技術 T: 不重要係數 (<) 重要係數 (>) LL3 HL3 HL2 LH3 HH3 HL1 LH2
方法一 使用不重要係數 1. 從 (LH3,LH2,LH1)、(HL3,HL2,HL1)與(HH3,HH2,HH1)中，任選一組 2. 設定 T = Cmax 3. Cmax: 最大小波係數，0.01< <0.2 4. 找不重要係數。令 Z1, Z2, Z3, ... ZN 為找到的 ZTR 5. 令浮水印位元為 W1, W2, W3, ... WN 6. Wi = 0 將Zi 中的所有元素設為 -m Wi = 1 將Zi 中的所有元素設為 +m
T=32 假設 m=3. W1W2W3= 101
方法一 (cont.) 偵測浮水印 參考 Zi 的ZTR 並讀取父親 X 與四個孩子 u1, u2, u3, u4. 令 Mi= (X+ u1+u2+u3+u4)/5. Mi < 0 被藏入位元 = 0; Mi 0 被藏入位元 = 1
方法二 使用重要係數 1. 選取 T1 與 T2 使得 T2 > T1 > Cmax. 2. 找 Ci 使得 T2 > | Ci | >T1. 3. Ci >0: Wi = 1 Ci = T2 Wi = 0 Ci = T1 4. Ci <0: Wi = 1 Ci = -T2 Wi = 0 Ci = -T1 5. 儲存已修改的係數位置C1C2C3…Cn、T1 與 T2
方法二 (cont.) 偵測浮水印 使用之前儲存的C1C2C3…Cn位置與T1 與 T2 |Ci | < (T1+T2)/2 被藏入的位元 = 0; |Ci | (T1+T2)/2 被藏入的位元 = 1
實驗結果 JPEG壓縮破壞 versus 方法(一) JPEG壓縮破壞 versus 方法(二)
實驗結果 (cont.) 雜訊破壞 versus 方法(一) 雜訊破壞 versus 方法(二)
亂數攪亂與影像相關攪亂 浮水印 亂數攪亂 影像相關攪亂
浮水印藏入及取回流程
實驗結果 從模糊化之Lena影像 中萃取出的浮水印 從增強對比之Lena影像 中 萃取出的浮水印
實驗結果 (cont.) 256x256 Lena
影像驗證浮水印技術 介紹 由Kundur及Hatzinakos提出 (July, 1999) 保障影像之合法使用權 可標示出被竄改的部份
浮水印藏入及取回流程 Example d=2 Ci -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 Ci/d -2 -2 -1 -1 0 0 1 1 2 Q(Ci) 0 0 1 1 0 0 1 1 0
實驗結果 影像驗證浮水印技術對於mm區塊均被破壞的TAF強韌度
實驗結果 (cont.) 影像驗證浮水印技術對於JPEG失真壓縮破壞的TAF強韌度
實驗結果 (cont.) 藏有浮水印 之512×512 Lena影像 帽子上羽毛部分被竄改
實驗結果 (cont.) (a) L為1時的比對圖 (b) L為2時的比對圖 (c) L為3時的比對圖 (d) L為4時的比對圖