第五节 位错之间的交互作用 晶体中存在位错时,在它的周围便产生一个应力场。 实际晶体中往往有许多位错同时存在。 任一位错在其相邻位错应力场作用下都会受到作用力,此交互作用力随位错类型、柏氏矢量大小、位错线相对位向的变化而变化。

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第五节 位错之间的交互作用 晶体中存在位错时,在它的周围便产生一个应力场。 实际晶体中往往有许多位错同时存在。 任一位错在其相邻位错应力场作用下都会受到作用力,此交互作用力随位错类型、柏氏矢量大小、位错线相对位向的变化而变化。

一、两个平行螺位错间的作用力 位错S1在(r,θ)处的应力场为 , 位错S2在此应力场中受到的力为: 两平行螺型位错间的作用力fr:大小与两位错强度的乘积成正比,而与两位错间距成反比,其方向沿径向 ,垂直于所作用的位错线。 同理,位错S1在 S2的应力场的 作用下也将受到一个大小相等,方 向相反的作用力。

当 和 同向时,即为同号螺位错, fr>0,作用力为排斥力, 若 和 反向时,即为异号螺位错, fr<0,作用力为吸引力。 即:两平行螺位错交互作用的特点是:同号相斥,异号相吸;交互作用力的绝对值则与两位错的柏氏矢量模的乘积成正比,而与两位错间的距离成反比。 平行螺位错的交互作用力

二、两个平行刃位错之间的作用力 e1作用于(x,y)处的应力分量有σxx,σyy,σzz,τxy,τyx,其余为0。但只有τyx和σxx对e2有作用,由于e2的滑移面平行于X—Z面,切应力τyx能促使其沿X轴方向发生滑移,正应力σxx能促使其沿Y轴方向发生攀移。τxy对e2的滑移不起作用, σyy,σzz对e2的攀移也不起作用。 ∴位错e1作用于位错e2上的力为: fx是引起滑移的作用力,当 和 一定时,fx的正负号(即作用力的方向) 由x(x2-y2)项决定,即由e2的位置决定。 e1 e2

当b1、b2同号时, 在|x|>|y|时,若x>0,则fx>0; 若x<0, 则fx<0,表明位错e2位于①、 ②区时,两位错互相排斥; 当y=0,若x>0,则fx>0;若x<0, 则fx<0,表明位于同一滑移面上的同号位错总是互相排斥的。 在|x|<|y|时,若x>0,则fx< 0; 若x<0, 则fx>0,表明位错e2位于③ 、 ④ 区时, 两位错互相吸引;

当|x|=|y| 时,fx=0,不存在使位错e2滑移的力,但当它稍许偏离此位置时,所受到的力会使它偏离的更远,即y=x和y=-x两条线是位错e2的介稳定位置。 当x=0, fx=0,当它稍许偏离此位置时,所受到的力就使它退回原处,即Y轴是位错e2的稳定平衡位置。

处于相互平行的滑移面上的同号刃位错,将力图沿着与柏氏矢量垂直的方向排列起来。 这样的位错组态构成小角度晶界,也叫做位错壁(位错墙)。回复过程中多边化后的亚晶界就是由此形成的。 两刃位错在X-轴方向上的交互作用 (a)同号位错;

对于两个异号刃位错,其交互作用力与同号位错相反,位错e2的稳定平衡位置和亚稳定平衡位置对换,即|x|=|y| 时,为稳定平衡位置。 (a)同号位错;(b)异号位错

fy是使e2沿y轴攀移的力。 当b1、b2同号时, fy与y同号。 位错e2在位错e1的滑移面以上时,即 y>0,则fy>0,位错将向上攀移; 当e2在e1滑移面以下时,fy<0, 则e2向下攀移。 因此,两同号位错沿y轴方向互相排斥。 而异号位错间的fy与y异号,所以沿y轴方向互相吸引。

第六节 位错的增殖、塞积与交割 一.位错的生成 1、晶体生长过程中产生位错。 先、后凝固部分点阵常数有差异,形成位错作为过渡; 第六节 位错的增殖、塞积与交割 一.位错的生成 晶体中的位错来源: 1、晶体生长过程中产生位错。 先、后凝固部分点阵常数有差异,形成位错作为过渡; 生长着的晶体偏转或弯曲引起相邻晶块之间有位相差,它们之间会形成位错; 晶粒受力变形而形成位错。 2、自高温较快冷却时晶体内存在大量过饱和空 位,空位聚集形成位错。 3、晶体内部的某些界面出现应力集中现象,使 该局部区域发生滑移,在该区域产生位错。

二、位错的增殖 充分退火的金属:ρ =1010~1012/m2; 经剧烈冷变形的金属: ρ =1015~1016/m2。 高出4~5个数量级:变形过程中,位错肯定以某种方式不断增殖了。 位错源:能增殖位错的地方。 位错增殖的机制有多种,其中最重要的是Frank-Read源,简称F-R源。

F-R源 过程: 位错线弯曲和扩展中,b不变,位错线各点性质在变。 1点为左螺旋,7点为右螺旋,两点相遇时,彼此抵消,位错线断开成两部分。 外面是封闭的位错环,向外扩展到晶体表面,产生一个b的滑移量; 而环内的CD在τ和T的作用下变直,回到原始状态。 CD重复上述过程,放出大量位错环,造成位错的增殖。

启动F-R源所需要的切应力 当外加切应力τ作用时,CD上将受到的力有: f=τb:驱动力, 使位错向前弯曲。 线张力T:T = (1/2)Gb2,使位错变直。 平衡时有:fds = 2Tsin(dθ/2) ds=rdθ,sin(dθ/2)≈dθ/2 平衡半径:r =Gb/2τ 使位错弯曲到半径r所需的切应力: τ= Gb/2r 半圆时:r最小, τ最大。 设CD间的距离为L,rmin=L/2, 启动F-R源所需的临界切应力: τmax= Gb/L f dθ/2

弗兰克一瑞德位错增殖机制已为实验所证实,人们已在硅、镉、Al-Cu,Al-Mg合金,不锈钢和氯化钾等晶体直接观察到类似的F-R源的迹象。

双交滑移增殖机制; L形位错的增殖机制。

三、位错的塞积 位错滑移运动的障碍:固定位错、杂质粒子,晶界等。 位错的塞积:位错在障碍物前被阻止、堵塞起来。 位错塞积群:塞积的位错群体。 领先位错:靠近障碍物的位错。 塞积群中位错所受的力有: 1)外加切应力产生的作用力τb, 促使位错运动,并尽量靠拢。 2)位错之间产生的相互排斥力, 使位错在滑移面上尽量散开。 3)障碍物作用于领先位错的阻力。 三种力平衡时,塞积群的位错停止滑动,并按一定规律排列: 越靠近障碍物,位错越密集,距障碍物越远,越稀疏。

塞积群前端的应力集中 领先位错所受的力:外加切应力和其它位错的挤压力+障碍物对领先位错的反作用力τ0。 塞积群由n个柏氏矢量均为b的位错组成,平衡条件: nτb=τ0b 可得: τ0 =nτ 在领先位错与障碍物之间存在很大的局部应力(应力集中)。n个位错塞积,头部的应力集中是外加切应力τ的n倍。 应力集中的正常松弛:位错借交滑移(螺位错)或攀移(刃位错)越过障碍物。 应力集中不能正常松弛的后果:导致晶体破裂或迫使障碍物另一边的位错源启动。

位错塞积群对位错源会产生反作用力。 反作用力与外加切应力平衡,位错源关闭,停止发射位错。 只有进一步增加外力,位错源才会重新开动。 对位错运动的阻碍能提高材料的强度。

三、位错的交割 位错的交割:具有不同柏氏矢量的位错彼此交叉通过。 割阶:当 和 两个位错相互交割时,各自生成的大小和位向等于对方柏氏矢量的曲折线段。 割阶仍属于原位错的一段,其柏氏矢量与原位错相同。 任意两个位错的交割

刃位错之间的交割 柏氏矢量互相垂直: AB上产生割阶PP’,PP’是位错线APP’B中的一段,其柏氏矢量为b2。PP’垂直于b2,属刃位错。 CD没受影响(b2与CD平行)。 两个刃位错的交割(柏氏矢量互相垂直)

柏氏矢量互相平行: AB上产生割阶PP’,PP’平行于b2; CD上产生割阶QQ’,QQ’平行于b1; 两割阶均为螺位错。 两个刃位错的交割(柏氏矢量互相平行)

刃位错与螺位错的交割: 刃位错AB上产生割阶PP’,柏氏矢量为b1,刃位错。 螺位错CD上产生割阶QQ’,柏氏矢量为b2,刃位错,但不能跟随CD一起滑移,只能借助攀移被拖拽过去,将对CD的继续移动带来困难。 刃位错与螺位错交割

交割的结果 交割的结果:形成割阶。可动割阶或固定割阶。 割阶的形成,增加了位错线的长度,需要消耗一定的能量。 交割过程对位错运动是一种阻碍。 可动割阶的影响:带着割阶的位错继续运动,阻力将增大。 固定割阶的影响,增大原位错继续运动的阻力,阻碍后续位错运动的 。 交割过程及交割的结果,都将使位错运动的阻力增加,变形更加困难,因而产生了应变强化。

应用弹性力学理论可求得刃型位错周围的应力分布,在直角坐标系中的应力分量为:(不适用于中心区) 式中 G—切变模量,ν—泊松比,b—柏氏矢量的模。

刃型位错线的移动: 滑移方向:垂直于位错线,但平行于b; 滑移面:位错线与b构成的平面,是一个确定的平面。 滑移结果:产生一个宽度为b的台阶。

位错的攀移 正攀移:多余半原子面向上移动。需失去最下面的一排原子。 实现方式:空位扩散到半原子面的下端,或半原子面下端的原子扩散到别处。 负攀移:多余半原子面向下移动。 实现方式:空位扩散到别处,或原子扩散到半原子面的下端。

位错攀移越过夹杂物